中古 JEOL JSM 6100 #9240232 を販売中

JEOL JSM 6100は、さまざまな材料の詳細なイメージングと分析のために設計された高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。これは、最大50,000xまでの倍率機能で、印象的な解像度のレベルを備えています。この顕微鏡は、高分解能の二次電子イメージング、後方散乱電子イメージング、高分解能透過電子イメージング機能を備えており、サンプルの表面や界面の分析に使用できます。この顕微鏡には、高解像度のコンピュータ断層撮影とサンプルの3Dモデルを生成できる自律スキャンステージも装備されています。これは、高解像度の3次元ビジュアライゼーション機能によって支援されます。この顕微鏡にまたより大きいサンプルを収容できる大きい部屋があります。6100はユーザーフレンドリーなソフトウェアプラットフォームによって運営されています。スクリプト機能を備えており、一度に多くのサンプルを分析することができます。このソフトウェアは、3D画像の再構築機能と2次元統計解析も提供します。標本の部屋は標本のローディングおよび荷を下すことを容易にするように設計されている険しい標本のホールダーが装備されています。このチャンバーはまた、高真空圧を備えており、より広範囲の材料分析を可能にします。最後に、JSM 6100にはオプションのエネルギー分散分光（EDS）システムも含まれています。これにより、サンプルの組成分析を含む顕微鏡に追加の機能が追加されます。また、サンプルのマッピングと定量分析も可能です。結論として、JEOL JSM 6100は、材料サンプルの精密かつ詳細なイメージングのために設計された高性能スキャン電子顕微鏡です。高解像度イメージング、3Dビジュアライゼーション、自律スキャンステージ、エネルギー分散分光機能など、さまざまな機能を提供します。これにより、研究者は原子レベルまでのサンプルの詳細な分析を得ることができます。