中古 JEOL JSM 6100 #9157307 を販売中

製造業者
JEOL
モデル
JSM 6100
ID: 9157307
Scanning electron microscope (SEM).
JEOL JSM 6100は、二次電子(SE)を利用した走査型電子顕微鏡(SEM)です。JSM 6100は可変圧力走査型電子顕微鏡で、オペレータはチャンバーの圧力を高圧3パスカル(約2ミリトール)から低圧10-6パスカル(約30ナノトール)まで変化させることができます。この圧力範囲により、充電効果を低減することで非導電試料のイメージングが可能です。試料ステージは-80°〜+90°の傾き範囲で360°回転することができ、斜めイメージングに最適です。標本の段階はまた標本の高さの調節のオペレータを助けることができます。このサンプルはホルダーに入れて、わずか8mmの短い作業距離を持つ対物レンズに引き上げることができ、高倍率を必要とする小型サンプルに最適です。5x〜45,000xのレンズ倍率範囲により、高倍率を実現しています。JEOL JSM 6100には、同時に使用するように設計された2つの30kV SE検出器があり、各検出器には30x〜20000xの倍率範囲があります。JSM 6100には、導電性および非導電性サンプルのイメージングに使用されるEverhart-Thornley Type SE検出器が装備されています。この検出器は、ファラデーカップを使用して電子後方散乱を検出し、二次電子を検出するために固体状態検出器(TED)を使用します。Everhart-Thornley SE検出器は、サンプル表面に細かいディテールを引き出す広いダイナミックレンジと解像度を備えています。Everhart-Thornley SE検出器は、第2の検出器である分岐長放射電子源(LEED)と組み合わせることで、検出範囲を原子スケールに拡張することができます。LEEDは、非導電面のイメージングと結晶構造の正確な決定を可能にします。LEEDソースには、手動制御を備えた2つの開口部があり、0〜100 nAの放射電流を変化させる機能があります。JEOL JSM 6100は、ナノメートルスケールの解像度を持つサンプルのイメージングに最適な強力な走査型電子顕微鏡です。これは、優れた解像度と精度で非導電性サンプルをイメージングすることができます。JSM 6100は、導電性および非導電性表面の詳細、および原子構造の決定に最適なツールです。
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