中古 JEOL JSM 6100 #201085 を販売中

製造業者
JEOL
モデル
JSM 6100
ID: 201085
Scanning Electron Microscope (SEM) 200 VAC, 15A, 1 phase, 50/60 Hz, 3 kVA.
JEOL JSM 6100は、高分解能イメージングや表面解析に使用できる走査型電子顕微鏡(SEM)です。低真空モードまたは高真空モードで動作するため、幅広い用途に適しています。装置の主な構成要素には、電子銃、電子光学、検出システム、および標本室があります。電子銃は、所望のエネルギーに加速される電子のビームを生成します。電子光学ユニットは、ビームを集中して形作り、画像の倍率を決定します。検出機は、試料に着陸した電子を記録し、その結果、表面の2次元画像が得られます。試料チャンバーは、サンプルをイメージングおよび分析用に配置する場所です。JSM 6100の特徴は、様々な素材のイメージングに適しています。加速電圧範囲は1〜30kV、倍率範囲は10x-800kXです。この広範囲の電圧と倍率により、薄膜からサブミクロン粒子まであらゆる画像に適しています。また、誘電体やポリマーなどの壊れやすい材料をはじめ、様々な試料表面のイメージングや解析が可能です。JEOL JSM 6100には、ユーザーがさらに詳細な画像を取得できるようにする機能強化も多数搭載されています。二次電子検出器を内蔵しており、試料表面の細部を識別することができます。また、背面散乱電子検出器を備えており、異なる材料間のコントラストを提供することができます。さらに、JSM 6100には自動ステージが装備されており、サンプルの位置決めを迅速かつ簡単に行うことができます。全体的に、JEOL JSM 6100は、高分解能イメージングおよび表面解析用の優れた走査型電子顕微鏡です。その高い加速電圧範囲と広い倍率レベルは、さまざまな材料の分析に適していますが、その統合された検出器と自動化されたステージは、ユーザーにさらに詳細と精度を与えます。これらの機能を備えたJSM 6100は、あらゆる顕微鏡実験室にとって貴重なツールです。
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