中古 JEOL JSM 6060LV #9408117 を販売中
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ID: 9408117
Scanning Electron Microscope (SEM)
With water cooler
Does not include EDS
(2) Vacuum pumps
HP Z230 Workstation
Resolution:
High vacuum mode: 3.5 nm (30 kV, 6 mm WD)
Low vacuum mode: 4.0 nm (30 kV, 6 mm WD)
Electron source: Pre-centered W hairpin filament
Magnification: x5 (48 mm WD) to 300,000 (149-Steps)
Image modes: Secondary electron image backscattered electron image
Detectors: Solid state type
Objective lens: Conical lens, WD 6 to 48 mm
Objective aperture: 30-Micron, manually centered with OL wobbler
Specimen stage: Eucentric goniometer
X: 80 mm
Y: 40 mm
Z: 5 to 48 mm
R: 360° (Endless)
T: -10 to 90°
Image store: 1280 x 960 Pixels
Analytical working distance: 10 mm for EDS and standard operation
Vacuum mode changeover:
Automatic PC interface controlled
LV Mode: 10-270 Pa
LV Detector: BEI and modes
Energy dispersive X-Ray microanalysis:
iXRF EDS Elemental analysis system
OXFORD INSTRUMENTS Si (Li) X-Ray detector, 10 mm²
Resolution (Mn K-Alpha): 130 eV
Light element detection (Be-U)
Sensitivities: Typically 0.1% - 1%
Qualitative analysis
Quantitative analysis
Digital X-Ray mapping and imaging, X-Ray linescans
Accelerating voltage: 0.5 to 30 kV (53-Steps)
Probe current: 1 pA to ~1000nA
Operating system: Windows 7.
JEOL JSM 6060LV Scanning Electron Microscope （SEM）は卓上型SEMで、工業用途や大学や研究室で使用される最も好ましいモデルの1つです。JEOL JSM 6060 LVは、高精細画像サンプルから元素分析まで、幅広い用途に最適なさまざまな機能と機能を提供します。SEMは、フィールド放射ガンデザインと高輝度ビームにより、最適な画質を提供するように設計されています。この走査型電子顕微鏡にはInLens検出器が搭載されており、二次電子および逆散乱電子イメージングを行うことができます。また、チャンバーサイズが大きいため、高倍率の非導電材料のサンプル分析が可能です。このユニットは、簡単な操作と幅広いイメージング方法を提供するように設計されています。超高解像度で、最小作動距離9mmで4。5nmの解像度に達することができます。このユニットはまた、低真空モードを備えているため、真空チャンバーなしで非導電試料で動作することができます。JSM 6060LVにはさまざまなサンプルホルダーがあり、EDS、 WDS、 EDX、 EBSD、 STMマッピングなど、幅広いアプリケーションを実行できます。最大チャンバー圧力は低く（<5 × 10 − 3 Pa）、さらに、ユニットには自動アライメントシステムが装備されています。また、画像ステッチ機能も備えており、10ミクロンの精度で複合画像をキャプチャすることができます。さらに、高度なソフトウェア制御システムにより、幅広いアプリケーションの微調整が可能です。結論として、JSM 6060 LVスキャン電子顕微鏡は強力で汎用性が高く、操作が簡単なSEMであり、研究者と産業ユーザーの両方に最適です。SEMは、さまざまなサンプルホルダー、InLens検出器、超高解像度、低真空モード、自動アライメントシステム、イメージステッチ機能を備えた優れた性能を提供します。SEMは多種多様な材料に適しており、多数のアプリケーションに最適です。
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