中古 JEOL JSM 6010LA #9080849 を販売中
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ID: 9080849
Scanning electron microscope (SEM)
Equipped with:
Energy Dispersive Spectroscopy (EDS)
Silicon Drift Detector (SDD)
onboard turbo pump
Resolution High Vacuum mode: 4nm (20kV), 8nm (3kV), 15nm (1kV)
Low Vacuum mode: 5nm (20kV) BSE
Accelerating voltage 500V to 20kV
Magnification x5 to x300,000 (printed as a 128mm x 96mm micrograph)
LV detector Multi-segment BSED (std.)
LV-SED (option)
LV pressure 10 to 100 Pa
Maximum specimen size Observation£º125mm diameter
Loadable 152mm
LGS type stage Eucentric goniometer
X=80mm, Y=40mm, Z=5mm-48mm
R=360¡ã (endless)
Tilt -10/+90¡ã
(Computer-controlled 2 or 3-axis motor drive)
Frame Store Up to 5120¡Á3840 pixels
EDS Standard (LA Version)
Embedded EDS system (silicon drift detector technology) Includes: Spectral Mapping, Multi-Point Analysis, Automatic Drift Compensation
Joel JSM-6010LA Microscopes Main Controls
Table Top
Table Base/Power Box
Monitor
Computer
Cords and Cables
Misc Accessories and Parts
Voltage: 100 V
Frequency: 50/60 HERTZ
InTouchScope function:
High resolution imaging in HV/LV/SE/BSE
Chemical analysis with integrated EDS built (standard on LA model)
Multi-touch screen control and wireless operation
Automatic SEM condition setup based on sample type
Simultaneous multiple live image and movie capture
Fast sample navigation at 5x ¨C 300,000x magnifications.
JEOL JSM 6010LAは、幅広いイメージングおよび分析用途向けに設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。この走査型電子顕微鏡を使用すると、サンプルの外面の2次元画像を作成することができます。表面や地形の詳細な研究に用いられることが多い。このモデルは、加速電子銃と単色検出器を組み合わせた独自の二重ビーム技術を使用して、ルーチンマイクロ解析と半導体不全解析の両方を可能にします。装置の高分解能と高スループットにより、幅広いナノスケール材料や物体の分析に最適です。JSM 6010LAの高性能スキャン電子マイクログラフィーは、優れたイメージング機能を提供します。2次電子の分解能は1nm、逆散乱電子の分解能は0。25nmです。JEOL JSM 6010LAの分析機能は包括的です。この装置は、サンプルの元素分析のためのエネルギー分散X線分光計と、深度プロファイリングのための電界放射銃を備えています。分光機能を使用して、0。5 eVの精度でX線エネルギーを測定することができます。エネルギー分散型のX線スペクトル定量化により、試料調製なしでppmレベルの微量元素解析が可能になります。JSM 6010LAには、in situ nanomechanical試験ツールもあり、サンプル表面の弾性からプラスチック機械的変形までの特性の研究を可能にします。このツールは、骨折試験を受けた材料の骨折表面を分析するために使用されます。操作の容易さと自動化を容易にするために、JEOL JSM 6010LAにはいくつかの高度な機能があります。ステージコントロールシステムを自動化し、SEMカラムに試験片の位置を維持する自動セルフロックシステムを搭載しています。また、可変高さのサンプルホルダーを処理できる液体窒素コンデンサーを備えています。全体として、JSM 6010LAは、高度なイメージングおよび分析用に設計された正確で信頼性が高く、効率的な走査型電子顕微鏡です。その優れたイメージングと高解像度機能は、幅広い研究のための優れたツールとなります。
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