中古 JEOL JSM 6010LA #293754493 を販売中

JEOL JSM 6010LA Scanning Electron Microscope （SEM）は、ナノテクノロジー、マテリアルサイエンス、ライフサイエンスなどの業界における顕微鏡構造のイメージングおよび解析における主要な機器の1つです。高性能・低真空SEMで、大型チャンバーを搭載し、操作性に優れたユーザーフレンドリーな機能を備えています。この6010LAには、優れた高解像度イメージングと高度な分析機能を提供する6。1 kWショットキーフィールドエミッションガンが装備されています。また、45°傾斜範囲の自動試料アライメントシステムを搭載しているため、試料の向きに関する情報を保存し、異なる向きで分析することができます。6010LAはまた、手動フォーカスの必要性を排除する半自動フォーカス機能を備えています。この装置は、二次電子（SE）、後方散乱電子（BE）、スキャンオーガー顕微鏡（SAM）、 X線微分分析（XRM）、電子後方散乱回折（EBSD）、カソドレンスなどの様々なイメージング技術を提供しています。また、サンプルチェンジャー、ガスインジェクションユニット、電子プローバー、振動・環境制御装置など、幅広い周辺機器を備えています。このツールの高速イメージングと自動化された機能により、オペレータの疲労が軽減され、効率と生産性が向上します。さらに、6010LAの直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスとWindowsベースのソフトウェアは、ユーザーフレンドリーな体験を提供します。最終的に、JSM 6010LA SEMは、高速、高度な機能、および優れた解像度を備えた研究および産業用アプリケーションに最適な資産です。