中古 JEOL JSM 6010LA #293635747 を販売中

JEOL JSM 6010LAは、様々な科学研究において電子の力を活用するために設計された高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。この装置には、熱電場・電界放射型電子銃、二次電子検出器（SED）、エネルギー分散X線分光計、元素分析用の波長分散X線分光計を備えた明るい電界走査型電子顕微鏡が装備されています。これは、高解像度のイメージング、X線マッピング、および標本の地形と組成の分析を提供することができます。JSM 6010LAは、低電圧観測を提供し、低電圧および中電圧イメージングおよび解析の動作モードを簡単に切り替えることができます。このデバイスには、サンプルアライメントを制御する自動化された装置が装備されており、迅速で簡単で正確な操作が可能です。その他のユーザーフレンドリーな機能には、複数の自動カウントシステム、標本画像の自動セグメンテーション、複数のサンプルの自動スキャンが同時に含まれます。JEOL JSM 6010LAは、シリコンドリフト検出器（SDD）を使用し、複数のkVおよび解像度での高解像度イメージングおよびX線マッピングを可能にします。また、後方散乱電子（BSE）マッピングや奥行きイメージングなどのマルチモードイメージングおよび解析機能を生成することができます。JSM 6010LAには、低真空システムと高感度SEDが内蔵されており、低電圧と中電圧の両方で動作し、従来のSEMよりも優れた結果を得ることができます。また、試料の定量分析に必要な走査型電子分光計を提供する電子ビームマイクロプローブユニット（EBMP）を搭載しています。この機械は、高感度かつ低ドリフトでエネルギー分散解析（EDX）を使用して、サンプルの元素組成をマッピングするために使用できます。EBMPには、統合された明るいフィールド表示オプションが付属しており、結晶構造、粒度、形状の試験片の特徴と特性を表示できます。JEOL JSM 6010LAは、高分解能イメージング、X線マッピング、解析、元素解析などを可能にする多目的スキャン型電子顕微鏡です。自動化されたユーザーフレンドリーな機能の範囲は、さまざまな研究アプリケーションにとって魅力的なデバイスです。