中古 JEOL JSM-6000 #9135789 を販売中

JEOL JSM-6000は、高解像度の画像処理と、真の色元素マッピングによる表面の解析を目的とした高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。最新のJEOL技術を活用し、1。2nmの解像度と試料調製なしでの試料の閲覧・分析が可能です。SEMは、電子の画像ビームを生成するために、高エネルギーに電子を加速します。入力された電子は試料表面の特徴と相互作用し、二次および後方散乱された電子やX線からの特徴的な放出をもたらします。このデータは、JSM-6000の最先端の電子および機械検出システムによって収集されます。SEMには、最大6。2mm/sで試料表面をスキャンするデジタル制御のラスター電子ビームが含まれています。これにより、0。2x〜75,000xの低倍率と高倍率の両方で高解像度の画像とスペクトルをキャプチャできます。また、表面形態、サンプルの元素組成、微細構造の特性評価のための幅広いイメージング技術を提供しています。JEOL JSM-6000は、超高速16ビットALPHA-E （Advanced Logarithmic Pixel Histogram Analysis Ergonomic）モデルのCCDカメラにより高速取得電力を提供します。また、エレメンタルマッピング用の広域カラーエネルギーフィルタとアトンプローブアナライザも含まれています。統合された「バーチャルサムネイル」機能により、試料の調査領域の最大4つのサムネイルを作成できます。また、JSM-6000にはEDS （Energy Dispersive Spectroscopy）検出器があり、試料の組成を分析し、試料表面の鉱物などを特定することができます。これにより、表面欠陥やその他の特性の検出、エッチングピット、腐食またはフレークの識別に最適です。さらに、統合された二軸ゴニオメーターユニットは、両軸に沿って30〜90度の角度補正と移動を可能にします。JEOL JSM-6000は、表面の物理的および化学的特性を測定および決定する高度な機械をユーザーに提供します。それは容易な参照のための高解像度のイメージおよびスペクトル、速いデータ収集および仮想サムネイルを提供します。これにより、研究および産業用途に理想的な選択肢となります。