中古 JEOL JSM 5900LV #9123096 を販売中
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ID: 9123096
Scanning Electron Microscope (SEM)
Turbo pump
OKB With Windows XP
EDAX EDX System with Si(Li).
JEOL JSM 5900LVは、その汎用性と性能で有名な業界グレードの走査型電子顕微鏡(SEM)です。これは、専用のコラムと高精細画像化機能を使用して、ナノスケールまでの表面の高解像度画像と解析を生成します。JEOL JSM-5900LVの高度な機能により、反射イメージング、逆散乱電子(BSE)イメージング、二次電子(SE)イメージング、および組成的に特定のイメージングなど、さまざまなイメージング技術を実現できます。JSM 5900 LVは、超高真空チャンバー、4軸ステージ、自動レンズアライメントを備えており、材料分析、故障解析、回路調査、プロセス制御など、さまざまなアプリケーションに最適です。JSM-5900LVのイメージング機能は驚くべきものです。フィールドと光学倍率の組み合わせにより、解像度はSEイメージングでは最大200ナノメートル(nm)に容易に到達し、BSEイメージングでは最大400 nmの解像度に達することができます。革新的な「自動バックスキャッターイメージング」機能により、ユーザーは優れたコントラストと忠実度で画像をキャプチャできます。また、異なる角度から最大3つの画像を同時に取得する独自の「ボクセルイメージング」機能も備えています。これにより、3次元モデルを迅速かつ正確に構築することができます。JEOL JSM 5900 LVは「可変圧力」モードも備えており、実験室の大気を制御しながら試料をスキャンすることで、より深度の高い材料を研究することができます。このモードは、追加の環境絶縁の必要性を排除し、研究者が独自の環境でサンプルを分析することを可能にします。JSM 5900LVの高度な解析機能により、ナノスケールでサンプルを研究するための強力なツールとなります。直感的なタッチスクリーンユーザーインターフェイスを備えた高速画像処理インターフェース(HIPI)を提供しており、最小限の学習曲線で試験片を迅速かつ正確に分析することができます。JEOL JSM 5900LVには、化学分析、粒度解析、結晶構造解析、3Dトモグラフィー、デジタルマイクログラフィー用のソフトウェアパッケージも含まれています。JEOL JSM-5900LVの汎用性と堅牢な設計は、研究開発に従事する研究室にとって理想的な選択肢です。高解像度イメージングと高度な解析機能を組み合わせることで、複雑なシステムや構造をナノスケールまで探索するのに最適です。要するに、JSM 5900 LVは、信頼性が高く、汎用性が高く、強力な走査型電子顕微鏡を求める実験室の専門家に最適なツールです。
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