中古 JEOL JSM 5900LV #293743791 を販売中

JEOL JSM 5900LV Scanning Electron Microscope （SEM）は、高解像度および高コントラストイメージングを必要とする様々な顕微鏡およびイメージング用途向けの汎用性の高い先進的な装置です。この高度な電子顕微鏡は、イメージング、複雑な3Dシミュレーションなど、幅広い分析機能を提供します。微細なナノ構造の詳細な3D画像を取得したり、微小なスケールで様々な材料を分析したりすることで、その元素組成や元素分布を検出することができます。強力なスキャン電子光学と高度な検出器により、比類のない解像度と画像コントラストを実現します。JEOL JSM-5900LVは独自の走査型電子カラムを採用しており、高品質な画像処理のためにサブアングストローム分解能で画像をキャプチャすることができます。この顕微鏡には、イメージング中に生成された二次電子を捕捉し、サンプルの組成に関する情報を提供するための統合された側面検出器が装備されています。さらに、検出器にはX線分光モードがあり、サンプルから放出されたX線を測定して元素組成を知ることができます。この装置は、3つの独立した真空チャンバーを備えた高真空装置を備えており、ビルドアップフリーイメージングを可能にします。JSM 5900 LVは、顕微鏡の環境をリアルタイムで感知するための統合エレクトロニクスシステムを搭載しています。このユニットは、高速で画像をキャプチャし、イメージング前のサンプルの自動アライメントと画質向上のための正確なデータ処理を提供します。さらに、電子ビーム下でサンプルを移動させる自動スキャン装置を採用し、高スループットのイメージングが可能です。JSM-5900LVは高度な走査型電子顕微鏡ツールです。統合されたエレクトロニクスおよび検出器、高真空資産、および自動スキャンモデルにより、研究者に比類のない分解能とコントラストでサンプルの地形と組成の両方を観察し、特徴付ける能力を提供します。そのため、ナノスケールで材料を研究する研究者にとっては非常に貴重なツールです。