中古 JEOL JSM 5900 #9102873 を販売中

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製造業者
JEOL
モデル
JSM 5900
ID: 9102873
Scanning electron microscope (SEM) Tungsten source Detection modes: secondary, backscatter Chamberscope Resolution: 3nm @ 30kV (Se mode), 5nm @30kV (BSE mode) 5-Axis stage Operating system: Windows 98.
JEOL JSM 5900は、高解像度イメージングおよび各種サンプルの測定用に設計された先進走査型電子顕微鏡(SEM)です。これは、優れた電子プローブの倍率のために、タングステンフィラメント電子銃だけでなく、フィールド放出銃を利用しています。そのデザインはまた、高解像度で情報の複数のチャネルで画像を取ることができます。JEOL JSM-5900は、5,000mmの広い作動距離を備えており、広い視野で大きなサンプルを分析および分析することができます。0。7ナノメートルから30mmまでの倍率範囲に対応し、3次元イメージングや定量解析も可能です。さらに、インレンズビデオおよび二次電子イメージングシステムは、イメージングの詳細と解像度を大幅に向上させます。JSM 5900の高性能検出器は、二次電子と後方散乱電子の両方を同時に収集することができます。これは、サンプルの優れた地形の詳細を提供します。また、光電子増倍管(PMT)、チャネル電子増倍器(CEM)、エネルギー分散型(EDX)システムなど、さまざまな検出器を備えており、標本の化学組成の詳細な分析を容易にします。JSM-5900にはJEOL Observation Control Tool (JOCT)も搭載されており、高度なSEM操作に使いやすいインターフェースを提供します。これにより、多数のイメージングチャネルの収集と、EDX/WDSシステムからの画像とスペクトルの両方の処理と分析が可能になります。さらに、自動アライメントやサンプル膜厚測定などの自動化機能を搭載しています。全体として、JEOL JSM 5900は、最適なイメージングおよび解析機能を提供する強力な走査型電子顕微鏡です。ユーザーフレンドリーなJOCTインターフェースはデバイスの操作を簡素化し、複数の検出器と自動化された機能により、高解像度で高度な画像処理ニーズに最適です。
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