中古 JEOL JSM 5800LV #9079565 を販売中

JEOL JSM 5800LVは、様々なサンプルの詳細なイメージングが可能な高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。この装置は、電子ビームによって生成された二次電子（SE）を利用して、サンプル表面の高分解能画像を作成します。高電圧電子銃は、最大30kVの電子ビームを生成することができ、検出器は0。5から30kVの範囲内のSEをイメージするように設計されています。この顕微鏡は、高解像度および低真空の両方のSEMモードで動作することができ、広範なイメージング機能を可能にします。試料チャンバーは、1。3 x 10-3 Paまでの圧力を達成することができる真空チャンバーを備え、さまざまなサイズと形状のサンプルに対応するように設計されています。試料ステージは、サンプルホルダーをx-y-z方向に動かすためのサンプルモーターで設計されており、サンプル機能を簡単かつ正確に調整できます。ステージにはサンプルクランプ機能が搭載されており、サンプルフィーチャーを安全に録画できます。JEOL JSM 5800 LVは、サンプルの高解像度画像を生成することができます。このイメージング装置は、エバーハイオプティクスのコラムに3段デフレクタを採用し、1。4mmのフィールドサイズで1。4nmまでの解像度、0。4mmのフィールドサイズで最大0。9nmの画像解像度を実現しています。また、狭い照明領域を利用した独自のエバーハイ「ウルトラHRスポット」モードを搭載し、高い回折限界解像度を実現しています。この顕微鏡には、マルチモード検出器ユニット、自動解析機、エバーグロー検出器、および「色」分析モードなど、多くの高度な機能が装備されています。マルチモード検出ツールは、SE、逆散乱電子（BSE）、 X線スペクトルの両方を記録することができ、サンプルの特徴の包括的なイメージングと分析を可能にします。エバーグロー検出器は、気流などの外部障害による画像歪みを排除し、高解像度サンプルの鮮明な画像化を可能にします。最後に「色」解析モードでは、サンプル画像から色情報を抽出して表示することができ、サンプルの内部構造をより深く把握することができます。要するに、JSM 5800LVは高性能スキャン電子顕微鏡であり、幅広いイメージングおよび解析機能を提供することができます。高速Everhigh光学カラムとマルチモード検出器を組み合わせることで、非常に高解像度のイメージングとサンプル分析が可能になり、研究者はその形成に比類のない洞察を得ることができます。さらに、マルチモード検出器アセット、自動解析モデル、色分析モードにより、サンプルを原子レベルまで詳細に画像化できます。