中古 JEOL JSM 5800LV #293776083 を販売中
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ID: 293776083
Scanning Electron Microscopes (SEM)
Chamber
Diffusion pump
5-Axis motorized stage
Secondary Electron (SE)
Backscatter detector
Tungsten filament
Variable pressure / low vacuum.
JEOL JSM 5800LV走査型電子顕微鏡(SEM)は、様々な材料の解析に使用される高分解能イメージング装置です。マルチモードコラムと可変圧力モードを備えたこのSEMは、1。0nmの印象的な横分解能と160mmの最適な作動距離を提供します。また、大きな出発角度検出器とリアルタイムのオートチューニングシステムを備えており、迅速かつ正確な分析を可能にします。JEOL JSM 5800 LVは、非導電性・導電性サンプルの高解像度画像を取得するだけでなく、極めて微細な特徴を画像化・測定することができます。この顕微鏡は、コントラストの増加と自動画像処理を可能にする統合されたデジタルイメージングシステムを備えています。この汎用性により、JSM 5800LVは最も要求の厳しいアプリケーションにとっても魅力的な選択肢となります。サンプル操作と準備の面では、SEMには標準のサンプルホルダーと真空システムが装備されています。SEMの自動化されたステージは、さまざまなサンプル間を素早く変更するのに役立ちます。また、顕微鏡には加熱段と冷却段があり、幅広い試料温度試験が可能です。JSM 5800LVの感度範囲は、複数のアプリケーションの柔軟性を高めます。高次の電子イメージングモードでは0。5nmまで、低次の電子や後方散乱の電子イメージングモードではさらに少ない分解が可能です。これにより、故障解析、粒度解析、形状解析など、さまざまなアプリケーションをより詳細に把握できます。JEOL JSM 5800LVの統合ソフトウェアにより、さらに使いやすくなりました。直感的なユーザーインターフェイスを備えており、強力なデータ取得および分析機能へのアクセスに役立ちます。さらに、データの後処理、画像の3D再構築、さらにはサンプル内の構造を定量的に測定する画像の自動セグメンテーションを可能にします。全体として、JSM 5800 LVは、あらゆるアプリケーションのニーズを確実に満たす印象的な走査型電子顕微鏡です。1。0nmの解像度と使いやすいソフトウェアを備えたこのSEMは、幅広いアプリケーションに優れたパフォーマンスを提供します。
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