中古 JEOL JSM 5800 #9219589 を販売中

JEOL JSM 5800は、高分解能イメージングと材料解析を可能にする走査型電子顕微鏡（SEM）です。試料から放出される二次電子や逆散乱電子（BSE）を検出して、電子ビームを用いて画像を作成します。SEMの高解像度イメージング機能により、様々な形態、構造、さらにはサンプルの元素組成を観察することができます。JEOL JSM-5800には5メートルの可変圧力チャンバーが装備されており、さまざまな粒子密度のサンプルを観察することができます。低温電子源は、画像の透明度と解像度を維持しながらサンプルの損傷を防ぎます。JSM 5800には、プリフィールドとフィールド補正コイル、絞りコヒーレンス、プリガスコネンサーレンズを含む高度な電子光学システムが装備されています。これらのコンポーネントは、画像の解像度とコントラストを向上させるのに役立ち。このシステムはまた、エネルギー分散型X線分析を可能にするインレンズ検出器を備えています。これにより、サンプル構成を評価することができます。JSM 5800にはオートフォーカス機能があり、サンプルを可変組成または地形で観察する際に高速かつ正確な測定を行うのに役立ちます。デジタルマイクロプロセッサによって制御されるインカラムのエネルギーフィルタは、二重散乱とビーム汚染による誤った画像信号の低減に役立ちます。この機能を使用して、薄いサンプルまたは平らなサンプルの高コントラスト画像を取得することもできます。JEOL JSM 5800には、試料の形状、組成、電気特性を解析するための各種イメージングモードも搭載しています。明るく暗いフィールドイメージングモードでは「、信号ニュートラル」値を使用してサンプルの地形特性を検出します。拡大画像解析ソフトウェアには顕微鏡が付属しており、画像のピクセルを定量的に解析できます。結論として、JSM-5800 Scanning Electron Microscopeは、高解像度の画像を提供し、形態学的特徴を分析し、サンプルの元素組成を提供することができる高度な機器です。顕微鏡の汎用性と操作性は、特に材料科学研究において、多くの用途に有用なツールとなります。