中古 JEOL JSM 5610LV #9259734 を販売中

JEOL JSM 5610LVは、微小サンプルの高解像度画像を可能にする可変圧力システムを利用した走査型電子顕微鏡（SEM）です。この機器を使用すると、異なるレベルの倍率と解像度で試験片を表示することができ、また、その汎用性を高める低電圧範囲（35〜2,000 V）を提供します。高解像度イメージングのために、この顕微鏡にはオックスフォード・インスツルメンツIX35 X-MAXNエネルギー分散X線検出器が装備されており、サンプルのほぼ瞬時の元素マッピングとエネルギー濾過イメージングを提供します。+30/-30°の統合された段階の傾きの指定および80mmの段階の長さがあります。さらに、機器はメンテナンスとオペレータのアクセスを容易にするように設計されています。JSM 5610LVは、2次電子（SE）における5nm視野で1nmの画像解像度を生成することができます。さらに、背面散乱電子（BSE）モードでは、視野14nmで5〜10nmの画像解像度を提供することができます。この顕微鏡は、画像取得に加えて、粒子同定やパーティクルカウントタスクの自動認識も提供します。この機器はイーサネット接続とスタンドアロンシステムモードの両方で動作し、電圧、ドウェル時間、表示輝度、コントラストなどのさまざまなパラメータを調整できます。さらに、自動画像取得および制御ソフトウェアを使用して、自動イメージングプロトコルを設定できます。このソフトウェアはまた、ユーザーがデータを操作し、レビューのための画像をエクスポートすることができます柔軟な後処理のためのオプションを提供します。全体として、JEOL JSM 5610LVは、高解像度イメージングと幅広いイメージング機能を提供できる強力で汎用性の高いSEMです。また、材料分析、研究、品質管理など様々な用途に適しています。