中古 JEOL JSM 5610 #9008606 を販売中
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販売された
ID: 9008606
ヴィンテージ: 2002
Scanning electron microscope
Resolution (high vacuum mode): 3.5nm (3.5nm@Acc.volt30kv,WD6mm)
Accelerating voltage: x0.5 to 30kV (53 steps)
Images: SEI, BEI (COMPO, TOPO, Shadow)
Magnification: 18(18x@WD48)x to 300,000x (in 136 steps)
Specimen size: less than 6"
Specimen stage:
Eucentric goniometer
X: 80mm
Y: 40mm
Z: 5 to 48mm
Tilt: -10° to 90°
Rotation: 360°
Electron gun: W filament
Gun bias: automatically settable for all accelerating voltages
Image shift: +12 micrometer or -12 micrometer
Displayed image: 640 x 480 pixels(640×480, 1280×960pixels)
Analytical functions: OXFORD ISIS EDS system
Detectable element range: 5B to 92U
Backscatter
EDS
2002 vintage.
JEOL JSM 5610スキャン電子顕微鏡(SEM)は、幅広い研究分野で使用される高度なイメージングおよび分析機器です。試料の内部構造や表面組成を詳細な分解能と精度で観察することができます。JEOL JSM-5610は、電子銃、加速柱、電磁光学、検出器からなる電子ビームカラムのアーキテクチャを運用しています。それは事前に決定されたエネルギーに電子を加速するタングステンフィラメント電子銃が取り付けられています。電子は静電気レンズによって集中され、標本の高分解能のイメージングを可能にします。標本の高解像度画像は、x5からx500,000までの様々な倍率で得ることができます。JSM 5610の加速電圧は0.2kVから30kVまで可変で、厚さの異なるサンプルを詳細に分析することができます。JSM-5610走査型電子顕微鏡は、試料のエネルギー分散X線分析(EDX)も可能です。EDXシステムは電子銃と結合され、サンプルに存在する元素の元素識別をユーザーに提供します。また、JEOL JSM 5610には、二次電子、後方散乱電子、送信電子の集積を可能にする広範な検出器が搭載されており、試料の表面地形に関する貴重な情報を提供します。検出器はまた、ユーザーがサンプルの組成地図や地形図を取得することができ、さらに詳細な材料分析や特性評価に使用することができます。全体的に、JEOL JSM-5610は、サンプルのイメージングと分析に関して、ユーザーに大きな精度と精度を提供する強力な機器です。それはシンプルさと利便性でユーザーを容易にする最先端の機能と技術を備えています。JSM 5610スキャン電子顕微鏡は、高度なイメージングと分析機能が必要な研究機関や産業研究所に強く推奨されています。
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