中古 JEOL JSM 5600LV #9314114 を販売中

JEOL JSM 5600LVは、サブアングストロムレベルの解像度を持つサンプルのイメージング、解析、特性評価用に設計されたプレミアムスキャニング電子顕微鏡（SEM）です。高電圧静電レンズと高性能低電圧カメラを搭載しています。この設計は、低真空モードと高真空モードの両方で動作する可変圧力チャンバを備えています。これにより、極端な条件下でのイメージングおよび試験片の分析が可能になり、高い横分解能で最適なイメージング条件をユーザーが制御できます。この機器には、4つの象限、4チャンネルのCzerny-Turnerモノクロメータも装備されています。このツールは、紫外線から赤外線まで、さまざまな電磁シグナルを使用してイメージングすることができ、さまざまな分析タイプを可能にします。ビーム力と強度は、1％の精度に調整することができます。電子ビームの波長を測定し、サンプルの組成を識別することができる3チャネル電子エネルギーアナライザもあります。サンプル室にサンプルの容易なローディングおよび精密な位置のためのモーターを備えられたサンプル動きがあります。高速スキャンのための高加速電源と短いスキャンタイムを備えています。JSM 5600LVは、高解像度イメージングと高速イメージングの両方が可能です。このシステムは、Sampled All-Round （SAR）視野や3-Dimensional （3D）イメージングなど、幅広いイメージング機能を備えています。JEOL JSM 5600LV走査型電子顕微鏡には、真空システムとイオンビーム蒸着ユニット（IBDU）も搭載しています。IBDUは、ユーザーが酸化物の層や金属または非金属コーティングなどの機能的な薄膜を準備し、堆積することができます。ポリマー、半導体、その他の材料表面の作成にも使用できます。さらに、インジウムチン酸化物（ITO）などの透明導電性コーティングを堆積してパターン化することができます。X線解析、粒子解析、リバースエンジニアリング、3D再構築などの高度な分析ツールを提供しています。これにより、材料研究から故障解析、リバースエンジニアリングまで幅広く応用できます。また、表面やバルク材料の定量的な特性評価のための理想的なツールであり、正確な解釈のための信頼性の高いデータを確保します。全体的に、JSM 5600LVは、極端な条件下でも、最適なイメージングと分析のために設計された高度な走査型電子顕微鏡です。さまざまなアプリケーションや研究目的を可能にする分析および特性評価機能を幅広く提供しています。