中古 JEOL JSM 5600LV #293648302 を販売中

JEOL JSM 5600LV Scanning Electron Microscope （SEM）は、様々なサンプル材料のイメージング、元素組成、3D解析のための強力なツールです。先進的な電子光学系と従来のSEMよりも優れた不確定性分解能を備えており、高解像度の画像が得られます。複数の画像を同時に取得することも可能です。さらに、2軸ゴニオメーターにより、試験片の向きを素早く簡単に調整できます。JSM 5600LVは、デジタルシャドウイメージングを含む3Dイメージング機能を備えた二次電子検出器と、焦点調整を最適化するための電界放射銃を備えています。さらに、二次電子検出器をエネルギー分散型X線検出器と組み合わせることで、イメージングおよび元素組成測定を行うことができます。JEOL JSM 5600LVは、画像処理の自動化と直感的なユーザーインターフェイスも提供しています。自動化された画像処理機能には、コントラスト調整、エッジ研磨、欠陥の誇張と補正、移動補正などがあります。直感的なユーザーインターフェイスにより、ラベル、色、シンボルを特定の場所に割り当てる機能など、簡単なパラメータ選択と簡素化された標本操作が可能になります。さらに、高スループットのドリフトレスイメージングからデータ操作、解析まで、さまざまなイメージングおよび解析ツールが利用可能です。JSM 5600LVは、小さなサンプルを撮影したり、超低コントラストの特徴を検出するための高度な高解像度モードを備えています。このモードは、低加速電圧で観察した場合でも、画像の解像度を向上させ、より高いコントラストで画像をレンダリングします。低加速電圧モードでは、試料からのX線放射も低減され、リード・シールドの必要がなくなります。さらに、走査型電子顕微鏡には、導電ピンに取り付けられた標本をはじめ、さまざまな標本サイズや形状のサンプルホルダーが装備されており、操作が容易です。JEOL JSM 5600LVは、パーティクルと体積の自動測定機能を提供し、正確で信頼性の高い定量分析を可能にします。最大100ナノメートルの大きさの粒子を測定することができ、サンプル間の粒子やサンプル内の異なる点を比較することができます。JSM 5600LVのダイナミックレンジは毎秒110億カウントまで拡張され、低コントラスト特性を正確に測定できます。さらに、高さや幅、位相変化、局所化された表面電位など、サンプルの物理的特性を測定する機能を提供します。最後に、JEOL JSM 5600LVは、ナノ構造形態のイメージングや厚い標本によるスキャンに最適です。マテリアルサイエンスからライフサイエンスまで、幅広い用途に対応した汎用性と使いやすい顕微鏡ソリューションです。