中古 JEOL JSM 5510 #9151679 を販売中

製造業者
JEOL
モデル
JSM 5510
ID: 9151679
ヴィンテージ: 2002
Scanning Electron Microscope (SEM) Operating system: Windows 2000 2002 vintage.
JEOL JSM 5510は、JEOL Ltd。が設計・製造した走査型電子顕微鏡(SEM)です。最大2nmの解像度と広い被写界深度を持つ高解像度イメージングを特長としています。また、表面解析、材料分析、コーティング特性評価など、様々な用途に使用でき、複数のタイプのラボに対応する汎用性の高いオプションとなっています。JSM 5510は、優れた画質を提供するために、高検出Everhart-Thornley Secondary Electron Detector (ET)を搭載しています。また、フォーカシングプロセスを簡素化するオートフォーカス装置を搭載しており、ターゲット材料に簡単かつ正確に集中することができます。JEOL JSM 5510には、ユーザーがユニットの動作に伴う圧力を調整できる可変圧力制御システムと、高度なSEMイメージングキャプチャと基本的なSEMイメージングの両方を可能にするさまざまな機能が含まれています。SEMは、サンプルの化学分析に波長分散型X線分光法(WDS)を利用しています。45°ゴニオメーターを使用して、WDSは高い精度と感度でサンプルの組成を決定することができます。また、JSM 5510は元素マッピング用のエネルギー分散X線分光法(EDS)に対応しており、分極観測用のBluRay偏光フィルタを搭載しています。JEOL JSM 5510は、静的および低真空モードを備えており、特定の種類の材料を表示することができ、サンプルマウントは任意の視点から簡単に観察するために200°まで回転することができます。また、SEMは40mm x 40mmのステージ範囲で最大30cm x 30cmの容量を備えており、さまざまなサンプルを観察することができます。JSM 5510の他の機能には、オプションの低電圧、低消費電力イメージングマシン、および270ms〜1000msのレイテンシ時間が含まれます。JEOL JSM 5510は、堅牢な設計と機能により、さまざまなラボやアプリケーションに最適な走査型電子顕微鏡です。その優れたイメージング機能は、さまざまなシステムとともに、高度なアプリケーションと基本的なアプリケーションの両方に理想的なオプションです。その汎用性とユーザーフレンドリーなデザインは、さまざまな実験室の設定に最適です。
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