中古 JEOL JSM 5510 LV #9236006 を販売中
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ID: 9236006
ヴィンテージ: 2002
Scanning Electron Microscope (SEM)
Operating system: Windows 2000
Electron beam type: W-Fillment
Manual backup
Resolution: 3.5 nm at 30 kV
Magnification: 18x (WD48 mm) - x300000 (136 steps)
Electron gun: Tungsten hair pin
Beam current: 1 pA - 10 nA
PC
LV Mode:
Resolution: 4.5 nm at 30 kV
Vaccum: 10-270 pA
Accelation voltages:
0.5 - 30 kV
0.5 - 3 kV (100 kV step)
3 - 30 kV (1 kV step)
Stages:
X Axis: 20 mm
Y Axis: 10 mm
Z Axis: 43 mm (WD5-48 mm)
Tilt Axis: 10±90
Rotation: 360°
Display:
LCD, 17"
SVGA
Monitor: IBM PC/AT
SDRAM: 64MB
Image output:
640 x 480
1280 x 960
Auto function:
Auto Contrast and Bright (ACB)
Auto focus
Auto stigma
Vacuum system:
Compressor: 1.0 MPa
Automatic control
Diffusion pump: 100 L / min
Pumping speed: 2min 30sec
Power supply: 100 VAC Single phase.
2002 vintage.
JEOL JEM 5510は、材料科学および物理科学研究における様々な応用と技術のために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。このモデルは、試料に向かって加速される電子のビームを放出するために、タングステンフィラメント陰極を利用しています。これにより、サンプルの高解像度および高スループット画像を得ることができます。試料は真空環境に配置され、空気が入らず電子ビームに干渉しないようにします。JEM 5510は5 x 10-7Torrの圧力条件を達成することができる専用の真空システムを含んでいます。高精細な電子ビームは、高解像度と低解像度の画像の間を調整するために調整することができる45kVタングステンフィラメントカソードを介して作成されます。JEOL JEM 5510の背面散乱検出器を使用して、0。5nmまでの分解能で試料の画像や動画をキャプチャできます。さらに、このモデルはハイダイナミックレンジ検出器を備えており、標本のわずかな細部でも、アングストロムレベルまでキャプチャできます。JEM 5510には自動サンプルスキャンを可能にする電動ステージが装備されています。これにより、同じ平面に沿った標本のポイントツーポイントスキャンを簡単に自動化できます。定義済みサンプルホルダーは、最大直径8。5cmまでの試料を保持します。JEOL JEM 5510は、高分解能イメージングのために、より高いコントラストと高分解能の画像を提供する二次電子検出器を提供します。この検出器は、有機材料を用いた試料のイメージングなどの低真空アプリケーションで特に有用です。さらに、発光源の高度な設計により、外部磁場がより繊細なイメージング要件に干渉するのを防ぎます。JEM 5510の汎用性の高い設計は、ソフトウェア機能にまで及んでいます。このモデルには、さまざまなイメージングモードやデータ処理機能にアクセスできるコンピュータ操作のユーザーインターフェイスが付属しています。全体的に、JEOL JEM 5510は、小型および高スループットイメージングに最適な強力な走査型電子顕微鏡です。優れたビルド品質、高度な機能、印象的なソフトウェア機能を備えたJEM 5510は、その価格帯で絶大な価値を提供します。
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