中古 JEOL JSM 5510 LV #293669766 を販売中

JEOL JSM 5510 LV Scanning Electron Microscope （SEM）は、ナノメカニクス、材料科学、法医学、ライフサイエンスの分野で使用するために設計された先進的なイメージングおよび分析機器です。このSEMは、明るく暗い視野イメージング、二次電子イメージング、分析機能、および50倍から50万倍までの倍率を提供します。5510 LVには、最適な画質と効率的な操作のための高度な電子銃とビーム制御システムが装備されています。また、高解像度イメージング用に設計されたフィールド排出量対応レンズも付属しています。高度な電子銃は、10kVと40kVの間の高電圧拡大の範囲を生成します。MicroPore Systems Inc。のサンプルステージも付属しており、簡単なサンプルロードと自動ステージオペレーションが可能です。5510 LVは、さまざまなサンプルタイプの高感度二次電子イメージングを提供します。また、ナノスケールでの試料組成の研究に最適な高分解能の遠距離および近距離イメージングソリューションも提供しています。さらに、5510 LVには、エネルギー分散X線分光法（EDS）、 X線蛍光法（XRF）、波長分散X線分光法（WDX）など、さまざまな高度な分析機能が搭載されています。これらの機能により、サンプル内に存在する元素を分子スケールで識別することができます。最後に、5510 LVにはEDAX EDS、 FEI EDS、 FEI XRF、 FEI WDX、 Automated Stage Scanning （ASS）などのさまざまなソフトウェアモジュールが装備されており、効率的で信頼性の高い画像と分析の収集が可能です。これらの高度なソフトウェアパッケージを使用すると、ユーザーは高解像度の画像を簡単に生成し、標本をすばやく分析できます。5510 LVは、さまざまなユーザーニーズに対応できるため、さまざまな種類の実験やアプリケーションに合わせてSEMをカスタマイズできます。