中古 JEOL JSM 5510 LV #293657551 を販売中

JEOL JSM 5510 LVは、100,000xまでの卓越した解像度と倍率を有する画像表面および特徴のために設計された走査型電子顕微鏡です。この洗練された装置は、その電子源からの一次電子ビームとサンプルとの相互作用によって生成される二次電子と後方散乱電子の両方を使用して動作します。高解像度のデジタルディスプレイを搭載し、画像キャプチャと解析のための統合イメージングシステムを備えています。このScanning Electron Microscope （SEM）は、100xから100,000xまでの広い倍率範囲と、試料観察のための作業距離の範囲を持っています。また、サンプルの組成解析用に設置可能なエネルギー分散型X線検出器も誇っています。JEOL JSM 5510LVには、より広範囲の電子ビーム電流とより迅速な動作を提供するコールドフィールド放射源（FES）が装備されています。これにより、SEMのパフォーマンスとそれが提供できる解像度が向上します。このSEMのいくつかの高度な機能には、自動利得制御が含まれています。これは、イメージングチェーンの利得を自動的に調整することによって画像品質を向上させます。大型の真空チャンバーとフローティングアームを内蔵し、幅広い方向にサンプルを取り付けることができます。これにより、スキャン時の振動や衝撃を容易に吸収することで試験片の安定性を向上させ、サンプルの移動を最小限に抑え、画像処理結果を向上させます。JSM 5510 LV走査型電子顕微鏡は、ナノスケール材料、表面、構造の研究に使用される高度なツールです。優れた解像度と独自のイメージング機能により、さまざまな研究開発分野において貴重な資産となっています。