中古 JEOL JSM 5500 #9103747 を販売中

JEOL JSM 5500は、非導電性材料と導電性材料の両方の高解像度画像を提供するように設計された高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。サンプル特性の試験には二次電子（SE）とX線を使用し、金属サンプルと非金属サンプルの両方のイメージングに使用できます。JSM 5500は、最大100,000ボルト（100kV）の可変加速電圧制御範囲を備えています。これにより、オブジェクトの表面の詳細な物理マッピングと3次元イメージングが可能になります。また、高度な自動収束機能を備えており、最適な解像度を提供するために電圧、電流、および画像距離を自動的に調整します。JEOL JSM 5500は、サンプルの正確なアライメントと測定を可能にする自動アライメントおよびオブジェクト追跡装置を備えています。このシステムにはモーター駆動のステージが含まれており、フォーカスを調整せずにスキャン中にステージとサンプルを再配置することができます。この機能により、手動でサンプルアライメントを行う必要がなくなり、正確で一貫性のあるスキャンが可能になります。JSM 5500は、独自のESE（環境スキャン電子）検出器を備えており、低電圧でのサンプル分析が可能で、充電補償を必要とせず、解像度も高くなります。このユニットはまた、サンプルと電子ビームの間の温度、圧力、相互作用の程度など、サンプル環境に関する貴重なデータを提供します。JEOL JSM 5500は、さまざまな種類の画像や倍率を生成することができます。倍率は0。8x〜800,000xで、フィールド対応スキャン面積は最大85mmです。このマシンには専用のサンプルホルダーも含まれており、サンプルステージを手動で転送する必要がなく、汚染やサンプル損傷の可能性が低減されます。JSM 5500は、イメージングサンプルに加えて、元素解析、化合物の検出、硬度や弾性などの物性測定などの分析作業も可能です。これにより、詳細な科学的調査に使用できる多種多様なデータの収集が可能になります。JEOL JSM 5500は、高度で使いやすい走査型電子顕微鏡です。オートアライメントやオブジェクトトラッキング、広範囲の拡大、専用サンプルホルダー、ESE検出器など、このツールは、サンプル分析やイメージングなど、さまざまな科学および産業用アプリケーションに適しています。