中古 JEOL JSM 5410LV #9080015 を販売中

JEOL JSM 5410LVは、高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。SEMのこのモデルは、科学的および産業的用途の広い範囲のイメージングと分析を提供する高性能の機器です。高倍率と高性能を両立した設計で、試料の細部まで精密に解析できます。JSM 5410LVは、広範囲のエネルギーを持つ粒子を検出するように設計された高スループット検出器のバリエーションを備えています。検出器の1つはショットキーフィールドエミッションガン（FEG）で、最も繊細な標本でも高解像度のイメージングが可能です。この顕微鏡装置は、高度な電界放出走査電子顕微鏡（FE-SEM）と低電圧走査電子検出器（LVSEM）を備えています。この顕微鏡は、高精度の多軸ステージを備えており、正確で信頼性の高いサンプル操作を提供します。さらに、自動サンプル転送システムにより、ステージ上のサンプルの迅速かつ一貫したアライメントが可能になります。これにより、分析とイメージングのために、サンプルのさまざまな部分のスムーズなワークフローと正確な位置決めが可能になります。JSM 5610は、位相対照イメージング、背面散乱イメージング、二次電子イメージング、化学イメージングなど、さまざまな用途に対応しています。また、エネルギー分散X線分光法、オーガー電子分光法、カソドルミネッセンス法、低電圧スキャン電子顕微鏡（LV-SEM）など、さまざまな分析技術もサポートしています。ユニットの高性能な機能に加えて、最新のグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）技術も搭載しており、機械を使いやすくし、便利なデータビジュアライゼーションを提供します。JEOL JSM 5410LVも堅牢性を念頭に置いて構築されており、広範囲の環境極端に動作するように設計されています。JSM 5410LV Scanning Electron Microscopeは、ハードサイエンスおよび産業用途向けの強力な機器です。高解像度の画像と分析機能を提供し、広範囲の環境極端な堅牢な動作を提供するために構築されています。汎用性の高い多軸ステージ、高性能ディテクタ、ユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスを備えたJEOL JSM 5410LVは、サンプル分析用の高度で有能なSEMをお探しのお客様に最適です。