中古 JEOL JSM 5310 #9251693 を販売中

JEOL JSM 5310は、研究分析用に設計された高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。低倍率から最大300,000xの倍率まで、さまざまな倍率で材料の高解像度画像を生成することができます。JSM 5310は最先端のマルチディテクタシステムを備えており、明るいフィールド、暗いフィールド、デュアルビームイメージングなどのさまざまなイメージング機能を提供します。JEOL JSM 5310は、高感度リチウムイオン検出器、電界放出電子銃、高解像度Z軸マニピュレータ、およびEDS（エネルギー分散X線分光法）を提供します。大型の傾斜サンプルホルダーと強力なX-Y-Zステージを備えており、サンプルの位置決めや操作が容易です。JSM 5310は、非常に高解像度の画像とスペクトルを生成するためのマルチワイヤースキャンシステムを使用しています。このシステムは、0。3nmの解像度で画像を生成することができ、ユーザーはサンプルの最小の機能を検出することができます。また、背景素材とのコントラストを生成することで小さな粒子を検出することができ、高コントラスト画像が得られます。JEOL JSM 5310は、FIB/SEM、 Automated SEM Image Acquisition、自動パターン認識など、複数の自動解析および画像処理機能をサポートしています。これらの機能は、大量のデータの分析に特に役立ちます。さらに、このユニットは、データ収集と操作のためにコンピュータに接続することもできます。最後に、JSM 5310は他の多くの分析機器やサンプリング技術と一緒に使用できるため、強力で汎用性の高いツールとなります。非常に高解像度で材料の画像やスペクトルを生成することができ、その構造と組成を詳細に分析することができます。JEOL JSM 5310は、生物学、材料科学、ナノテクノロジーなどの分野の研究者が使用する強力なツールです。