中古 JEOL JSM 5200 #9176403 を販売中

JEOL JSM 5200は高性能スキャン型電子顕微鏡（SEM）です。可変圧力SEMの効率的な機能と高解像度SEMの機能を組み合わせ、比類のない利便性と精度を研究者に提供します。この顕微鏡は、高感度エネルギー分散X線検出器（EDX）を備えており、高解像度の元素分析を可能にします。さらに、簡単な操作と最適な結果を得るために、調節可能な試料チャンバーが装備されています。このデバイスは、その高度な機能のために、工業的および学術的な研究の範囲の間で人気があります。JSM 5200は3mmの作動距離と3。6mmまでの追加範囲を備えており、様々な試料サイズを取り付けることができます。また、空気の流れのための13。6mmの開きがあり、ユーザーは健康な環境で働くことができます。SEMはさまざまな背面散乱電子検出器で動作し、ユーザーのニーズに合わせた柔軟性を提供します。この顕微鏡は、エバーハート・ソーンリー二次電子検出器も備えており、極端な倍率での最大の安定性を実現しています。JEOL JSM 5200は、最大1。7nmの優れた解像度をユーザーに提供します。これにより、従来の顕微鏡では見られない複雑なディテールを観察することができます。スキャンシステムは、研究者が任意の尋問パターンを設定できるように設計されており、複雑な研究を行うことが可能です。SEMには自動ナビゲーションシステムが搭載されており、ユーザーが実験を段階的に進めることで最大限の成功を収めています。ソフトウェアのユーザーインターフェイスは理解しやすく、ナビゲートしやすく、迅速な操作が可能です。このSEMは、要素解析に優れた速度と精度を提供し、ユーザーは将来の参照のためにデータを保存することができます。この装置は30 kV/200nAの電子源を備えており、サンプル調製なしで高解像度の画像処理が可能です。自動化されたステージは、サンプルステージングの最適化を確実にし、ユーザーの貴重な時間を節約し、正確な結果を保証します。これにより、質的分析や基礎研究に最適です。全体として、JSM 5200は高度な走査型電子顕微鏡で、幅広い研究用途に最適です。優れた解像度を提供し、元素分析が可能であり、市場で最も人気のあるSEMの1つです。