中古 JEOL JSM 35C #9192676 を販売中
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JEOL JSM 35C Scanning Electron Microscope (SEM)は、顕微鏡レベルで物体を拡大し識別するために様々な業界で使用される先進的な機器です。この強力な顕微鏡は、サンプルの細かい特徴を詳細に表示する高解像度の拡大をもたらします。JSM 35Cは、立体画像と元素組成の両方を提供することができるため、材料科学、ナノ科学、産業固体および材料研究などの研究分野で特に価値があります。JEOL JSM 35Cには、デジタルイメージングとアーカイブ機器を介して動作するスキャン電子柱が装備されています。ソース制御とイメージングパラメータは、サンプルごとに簡単にカスタマイズできます。二次電子、後方散乱電子、後方散乱エネルギースペクトルなど、さまざまなモードで動作することができます。この柔軟性により、表面構造フィーチャーの観察と分析、元素分布のマッピング、サンプル間の接続の分析など、幅広い用途に理想的な顕微鏡となります。高度な顕微鏡は、5x10-7 Torrの究極の真空を備えています。放射電流範囲は0。1pA〜100nAで、標準波長は12。5nmです。検出システムは、優れた分解能と低ノイズとのコントラストを実現するために最適化されています。JSM 35Cは、サンプルの損傷を最小限に抑えるために、1x10-6 Torrの超低真空を備えています。JEOL JSM 35Cのデジタルイメージングおよびアーカイビングユニットには、ステージ移動、検出器、ステージのモーター制御機能が搭載されています。最大300万枚の画像を保存し、テーブルにデータを収集し、データや画像からレポートを生成することもできます。さらに、このマシンはユーザーフレンドリーなネットワークコネクタとソフトウェアを提供しています。JSM 35Cは、究極の真空、低ノイズ、超低真空動作などの高度な機能と機能により、研究に最適なツールです。材料科学、ナノ科学、産業固体、材料研究など幅広い用途に適しています。統合されたデジタルイメージングとアーカイブツールは、JEOL JSM 35Cの全体的なユーティリティに追加し、データと画像の簡単な保存とレポートを可能にします。
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