中古 JEOL JFS 9955S #293642746 を販売中
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JEOL JFS 9955S Scanning Electron Microscope （SEM）は、イメージング、粒子解析、表面解析など幅広い用途に使用される強力な分析ツールです。柔らかい有機材料から、より硬い無機複合材料まで、さまざまな材料の高解像度イメージングおよび分析用に設計されています。JFS 9955Sは堅牢な設計で、研究環境と産業環境の両方に最適です。この装置のカラムには、対物レンズとサンプルの正確な位置決めを保証する超安定性のダイレクトドライブモーターが装備されています。また、その二次電子検出器は、スキャンや後方散乱した電子を画像に利用しており、優れたディテールを備えた高品質の画像を提供しています。超高解像度の「CED」電子検出器をはじめ、様々な検出器で粒子や表面解析を行うことができます。この高度な検出器は検出感度が高く、従来の検出器よりもはるかに小型の粒子を分析し、特性評価することができます。また、JEOL JFS 9955Sには、元素解析用のエネルギー分散分光計（EDS）を搭載しています。この2つの検出器（CEDとEDS）を組み合わせることで、微細構造解析と元素解析の両方を行うことができ、他のシステムよりも高速な画像処理が可能になります。JFS 9955Sは、高度な検出器とともに、SEM操作とユーザーエクスペリエンスを向上させるための幅広い高度な機能も提供しています。SEMはオートフォーカスなどのさまざまな自動機能を備えており、ユーザーは楽器の焦点を素早く正確に調整できます。さらに、さまざまな画像取得および解析ソフトウェアを備えているため、試験片のパラメータをよりよく監視し、後処理機能を活用することができます。全体として、JEOL JFS 9955Sは、イメージングおよび粒子/表面解析を含む幅広い用途に最適です。堅牢な設計と高度な機能を備えているため、高品質の画像処理と分析結果を得ることができます。強力な検出機能を備えたJFS 9955Sは、高性能スキャン電子顕微鏡をお探しの方に最適です。
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