中古 JEOL JFS 9855S #293645448 を販売中

JEOL JFS 9855S
製造業者
JEOL
モデル
JFS 9855S
ID: 293645448
Focused Ion Beam (FIB) System.
JEOL JFS 9855S走査型電子顕微鏡は、ナノスケールでの試料の詳細な分析を可能にする高度な装置です。この顕微鏡は、走査型電子顕微鏡、二次電子イメージング、後方散乱型電子イメージングなど、いくつかのイメージング技術を組み合わせたものです。JFS 9855Sは、様々な用途において高い競争力を誇る高性能機器です。この顕微鏡は、高度に専門化されたタイプの電子光学を採用しており、集中して定義された電子ビームを生成するように設計されています。高解像度スキャン電子検出器は、最大1ナノメートルの解像度を持つ画像をサンプルに提供することができます。さらに、このシステムの二次および後方散乱電子検出システムは、ナノメートルスケールの特徴を画像化する機能を提供します。これにより、材料科学や半導体製造におけるサンプル分析など、幅広い用途に対応できます。JEOL JFS 9855S顕微鏡は、従来の走査型電子顕微鏡、後方散乱型電子イメージング、二次電子イメージング、エネルギー分散分光など、さまざまなイメージング技術も可能です。さらに、このシステムには、サンプルの準備とデータ収集のプロセスを大幅に簡素化するさまざまな自動制御とユーザーフレンドリーなインターフェイスが含まれています。JFS 9855Sには、スパッタコーティングチャンバーの自動化などの高度な機能もあり、サンプル表面にカーボンや金などの金属を薄く均一にコーティングすることができます。この均一にコーティングされたサンプル表面は、高品質の画像を作成するために必要であるだけでなく、画像処理中にサンプルが損傷しないようにするためにも必要です。JEOL JFS 9855Sでは、これらの機能を利用して、高解像度のナノ構造画像を正確かつ確実に生成できるツールを提供しています。全体的に、JFS 9855S走査型電子顕微鏡は、ナノスケールのイメージングで高性能で信頼性の高い結果を提供するように設計された、強力で高度な機器です。JEOL JFS 9855Sは、高度な電子光学技術と幅広いイメージング技術を駆使することで、従来のイメージング技術よりも大幅に詳細なナノ構造の画像を得ることができます。JFS 9855Sは、ナノ構造や半導体サンプルを高解像度で解析したいユーザーに最適な機能と機能を備えています。
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