中古 JEOL JFIB 2300 #9409370 を販売中

製造業者
JEOL
モデル
JFIB 2300
ID: 9409370
ヴィンテージ: 2002
Focused Ion Beam (FIB) system 2002 vintage.
JEOL JFIB 2300はナノテクノロジーにおけるナノ構造の観察・解析を目的とした走査型電子顕微鏡です。高度な電子光学を利用して、極めて微細な解像度でデジタル画像を生成します。ビーム電流は0〜300pAで、100nmの解像度で表面の画像を生成することができます。JFIB 2300には、化学組成を識別できるエネルギー分散分光計(EDS)が含まれています。この顕微鏡には電子後方散乱回折(EBSD)ユニットも含まれており、サンプルの結晶方向に関する情報を得ることができます。磁気偏向器は、電子ビームが正確に整列されていることを保証し、内蔵の分散絞りは、より高い倍率で画像を取得する能力を提供します。JEOL JFIB 2300は、使用寿命の長い耐熱性と耐振動性です。また、安全シグナリングや静電気対策ボードなどの安全機能も搭載しています。この顕微鏡は、高精度のピエゾアクチュエータと、正確なステージ移動とサンプル位置決めのためのクローズドループ位置決めシステムで構築されています。ユーザーインターフェイスは、ボタンやマウスと一緒にオプションと組み込みモニターの広い範囲を持って簡単に操作できます。さらに、このインターフェイスにはネットワーク接続が含まれており、データ分析のために外部コンピュータと通信することができます。全体として、JFIB 2300は非常に強力な走査型電子顕微鏡で、ナノ構造の詳細かつ正確な画像を生成することができます。その機能の範囲は、ユーザーが簡単に標本の物理的および化学的構造を識別することができる信頼性の高いイメージングツールになります。
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