中古 JEOL JFIB 2300 #9207231 を販売中

JEOL JFIB 2300は、研究者がサンプルの微細な形態を詳細に研究することを可能にする走査型電子顕微鏡（SEM）です。この顕微鏡は、焦点を当てたイオンビーム（FIB）と走査型電子ビーム（SEB）によって駆動され、高精細な画像を作成します。FIBは調整可能な設定範囲が広いため、明るさをダイヤルして1nm以下のレベルにズームすることができます。イオンビームは表面の特徴から原子レベルまで非常に高分解能の地形スキャンを提供し、SEMはサンプルの表面から10 μ mの深さまで優れた画像を提供します。JFIB 2300は、ラボで不可欠なツールとなる幅広い機能を提供しています。この顕微鏡は、サンプル表面から高解像度の3D画像を生成することができ、非常に小さな特徴を調べるために重要です。この顕微鏡のデュアルビームにより、試料と背景の両方の画像を同時に取得することができ、コントラストと解像度を向上させることができます。さらに、顕微鏡のイメージングおよび傾き制御システムを調整して、非常に詳細な画像を迅速かつ正確に生成することができます。顕微鏡の高精度は、オートフォーカスシステムとその幅広い検出器ジオメトリ設定に起因しています。これにより、細部まで精密に観察することができます。さらに、この顕微鏡には、エネルギースペクトルを最適化するだけでなく、SEM画像のコントラストと解像度を高めるために使用することができるインカラムのエネルギーフィルターが装備されています。JEOL JFIB 2300が提供するハイエンド自動試料調製機能は、研究室でも貴重な資産です。自動化されたサンプルステージを備えており、顕微鏡がサンプルのさまざまな領域を回転、傾け、自動的に焦点を合わせることができます。これにより、複数の領域を同時にイメージングできます。さらに、バックサイドイメージングなどの自動SEMイメージング技術により、顕微鏡は、イメージングプロセスに干渉する可能性のある表面およびサブサーフェスフィーチャーを除去することができます。JFIB 2300はナノスケールの標本を撮影するための非常に有効な走査型電子顕微鏡です。そのユーザーフレンドリーなデザインは、非常に高いレベルの精度と詳細を持つ複雑な生物学的および物質的サンプルを評価する研究者にとって理想的なツールです。画像と列内エネルギーフィルターの高解像度により、研究者は標本の顕微鏡的特徴を信頼性が高く効率的に探索することができます。