中古 JEOL JFIB 2300 #293671426 を販売中

JEOL JFIB 2300は、材料分析や材料科学研究用の高解像度断面画像作成に使用されるイオンビームスキャン電子顕微鏡（FIB-SEM）です。分析・イメージング絶縁体、金属、生体材料、ナノ材料など幅広い用途に使用できます。JFIB 2300は、フィールドエミッションスキャン電子顕微鏡（FE-SEM）と統合された300kV FIBカラムを組み合わせ、材料を効率的かつ正確に画像化および分析します。300kVまでのイオン加速が可能な超高分解能イオンカラムと、50〜200nmの分解能を持つフォーカスイオンビーム（FIB）を備えています。ナノ構造のイメージングや特性評価に最適です。JEOL JFIB 2300には、イオン源、二次電子検出器、高角環状暗場検出器（HAADF）、後方散乱電子検出器（BSE）、アナログおよびデジタル画像プロセッサ、およびさまざまな表面処理システムなど、さまざまなアクセサリがあります。また、cryo-fracturingとcryo-micromachiningを実行するためのcryo-sampleホルダーが装備されています。JVPソフトウェアパッケージを搭載しており、画像の高速処理が可能で、画像コントラストの向上や画像のシャープニングが可能です。ミリングとイメージングを組み合わせ、マイクロトモグラフィーとイメージステッチを組み合わせることで立体映像を制作することができます。JFIB 2300は、強力で汎用性の高いFIB-SEMツールです。その高解像度は、ナノメートルサイズのスケール上の構造のイメージングと特性評価に理想的な選択肢となります。ナノスケール科学、材料科学、生体試料分析など、幅広い科学および工学研究アプリケーションに適しています。