中古 JEOL JEM F200 #293597811 を販売中

JEOL JEM F200は、高分解能イメージングを実現する電界放射電子源を提供する走査型電子顕微鏡（SEM）で、最大5ナノメートルの解像度でサンプル構造の拡大画像を得ることができます。最新のSEM機器であるJEM F200は、幅広い機能とオプションを提供し、さまざまな用途や試験片に適しています。JEOL JEM F200は、最大300kVの加速電圧と3mmの作動距離で5nmの分解能を備えています。コンデンサーレンズビームブランキングシステムは、加速電圧、検出器の選択、ビームブランキングの組み合わせを使用して、物体のビーム分析にダイナミックコントラストを提供します。ビーム電流は0。1 pAから20-40 nAまで調整可能で、高精度銃回路では1-2 pAの低電流が可能です。JEM F200は、電子光学カラムを使用しています。Everhart-Thornley二次電子検出器、タングステン/レニウム後方散乱電子検出器、送信エネルギー検出器、BSE検出器など、4つの検出器が内蔵されています。JEOL JEM F200は、低試料ドリフトによる高速イメージングを提供し、オプションのスポットスキャンステージによりナノメートルスケールの画像を取得できます。自動化されたサンプルステージにより、簡単かつ効率的なサンプルローディングが可能になり、マルチポジションのピンホルダーサンプルステージにより、簡単な試料のセンタリングが可能になります。また、暗室ポートカバーと、凍結破壊複製などの超低真空環境で作業するユーザー向けの銃室カバーもあります。JEM F200には、位相シフトスキャンやタイムラプス取得など、さまざまな自動機能や機能も含まれています。内蔵のコンピュータには、さまざまなイメージングモード、自動化された操作、ユニットパラメータの制御を提供する高速シングルプロセッサがあります。温度調節機械は+/-0。5度の摂氏精密および完全なオートメーションの温度調整を提供します。全般的にJEOL JEM F200は、高精度な画像処理と自動化された操作を実現しており、生物学的、産業的、研究的な設定など、幅広い用途に最適です。このツールは、最大5ナノメートルで非常に高解像度の画像処理を行うことができ、内蔵の検出器、自動サンプルステージ、および自動機能により、優れた機能を提供します。