中古 JEOL JEM 9320 #293758760 を販売中

製造業者
JEOL
モデル
JEM 9320
ID: 293758760
Focused Ion Beam (FIB) system.
JEOL JEM 9320は、材料科学、ライフサイエンス、ナノテクノロジーなど幅広い分野において高解像度イメージング機能を提供する先進的な走査型電子顕微鏡(SEM)です。JEM 9320は、汎用性の高い設計と最先端の技術により、様々なサンプルのマイクロスケールおよびナノスケール構造に関する詳細な洞察を提供できる強力な機器です。JEOL JEM 9320の主な特長の1つは、高解像度イメージング機能で、サンプルを非常に鮮明で細部まで可視化することができます。高輝度電子源と高度な電子光学を搭載し、最大0。4ナノメートルの空間分解能を実現しています。この解像度により可視光の波長よりも小さい特徴や構造を観察することができ、ナノスケール材料やデバイスの研究に最適です。JEOL JEM 9320は、印象的なイメージング機能に加えて、サンプルの組成、形態、特性に関する貴重な情報を提供する分析技術も提供しています。この装置には、二次電子検出器、後方散乱電子検出器、エネルギー分散型X線分光検出器(EDS)などの複数の検出器が装備されており、標本の元素分析とマッピングを行うことができます。JEM 9320は、イメージング機能と分析機能を組み合わせることで、金属や半導体から生体試料やポリマーまで、幅広い材料を特徴付けるための汎用性の高いツールとなります。JEOL JEM 9320には、高度な自動化およびソフトウェア制御システムが搭載されており、画像処理や解析プロセスを効率化し、高品質なデータを迅速かつ効率的に取得することができます。この機器にはユーザーフレンドリーなソフトウェアインターフェイスが装備されており、イメージングパラメータの簡単なナビゲーションと制御を可能にします。さらに、冷凍試料を研究するためのクライオトランスファーシステムや、温度や湿度の制御された条件下での実験を行うための環境チャンバーなど、追加のアクセサリーとオプションでカスタマイズすることができます。JEOL JEM 9320は、サンプルの取り扱いと操作に関して、さまざまな種類の標本に対応するためのさまざまなオプションを提供しています。この装置は、さまざまなサイズや形状のサンプルに対応できる大容量のチャンバーサイズと、自動サンプル移動やナビゲーションを可能にする電動ステージを含む複数のステージのオプションを備えています。また、試料の導電性や画質の最適化に欠かせないスパッタコーターやカーボンコーターなどの高度な試料調製工具を搭載しています。全体として、JEOL JEM 9320は、高解像度イメージング、高度な分析機能、ユーザーフレンドリーな操作を組み合わせた最先端の走査型電子顕微鏡で、マイクロナノとナノの世界を探索するための強力なツールを研究者や科学者に提供します。JEM 9320は、学術研究、産業品質管理、材料特性評価に使用されるかどうかにかかわらず、優れた性能と汎用性を提供し、あらゆる研究室や施設で貴重な資産となっています。
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