中古 JEOL JEM 3200FS #9293906 を販売中

JEOL JEM 3200FSは、幅広い材料のイメージングに使用される超高解像度スキャン電子顕微鏡（SEM）です。この装置は、イメージング能力を向上させるために、様々な産業からの貢献を受けて開発されました。高い解像度と使いやすさにより、ユーザーに比類のないパフォーマンスを提供します。JEM 3200FSは、標準的なSEMイメージング、低真空モードのメタログラフィー、バックスカッタ電子（BSE）イメージングなど、幅広いイメージングモードを提供しています。また、大きなスキャン領域を誇り、前任者よりも高い倍率を達成することができます。JEOL JEM 3200FSには、変圧・加速電圧が可能な電界放射砲（FEG）を搭載しています。これにより、システムの効率が向上し、画像解像度とサンプルの安全性の両方が向上します。さらに、FEGは、より高い電子ビーム電流でのイメージングを可能にし、薄い層の検出と画像のコントラストの向上を提供します。この装置には、二軸ゴニオメーターやオートフォーカス・システムなどの高分解能オプティクスも装備されています。これらは、画像を取得する際に正確な制御と高精度を提供します。SEMは、高度なダークフィールドおよび遅延イメージング機能も備えており、高コントラスト画像を迅速かつ正確に取得することができます。JEM 3200FSは、幅広い画像情報を得るために設計された信頼性の高い強力な機器です。高解像度イメージングと幅広い機能を提供し、材料科学などの分野を中心にあらゆる研究に最適です。