中古 JEOL JEM 3200FS #293796361 を販売中

JEOL JEM 3200FSは、高解像度イメージングと高度な解析技術を1台の機器に組み合わせた電界放射走査型電子顕微鏡（FE-SEM）です。JEM 3200FSの高度なイメージングおよび解析機能は、極めて低収差の電子ビームと画期的な新しい信号チャネル設計を生み出すコールドフィールド放射電子源によって実現されています。これにより、JEOL JEM 3200FSは、高解像度画像と優れた分析結果を達成することができます。また、コールドフィールド放射源により、JEM 3200FSは環境振動とドリフトを最小限に抑え、究極のイメージング安定性を実現します。JEOL JEM 3200FSは、SE（二次電子）イメージング、BSEM（後方散乱電子）マッピング、回折コントラストイメージング、カソドルミネッセンス（CL）、環境走査電子顕微鏡（ESEM）など、さまざまな検査モードを提供しています。また、カーボンコーティングがなく、低真空（LV）モードではサンプルをイメージすることが困難な、真のSEモードで非導電性サンプルをイメージすることもできます。JEM 3200FSの分析機能には、エネルギー分散X線分光法（EDS）、 X線蛍光法（XRF）マッピング、電子後方散乱回折（EBSD）、 EDS化学イメージング、エネルギーフィルターイメージング（EFPA）などがあります。JEOL JEM 3200FSは、フルレンジのESD/TEMホルダー、ファラデーカップ、RF抽出器、静電チャックなど、さまざまなサイズと形状のサンプルに対応できるチャンバーアクセサリーのフルレンジを装備しています。チャンバーアクセサリーは、最も効率的で正確な測定を保証し、さまざまなイメージングおよび分析技術に理想的なプラットフォームを提供します。JEM 3200FSは、直感的なグラフィックユーザーインターフェイス（GUI）と統合された「スマートコントロール」による自動化された操作を備えています。これにより、複雑な実験を簡単に実行でき、簡単なコマンドで大量のデータの処理を簡素化できます。JEOL JEM 3200FSは、リアルタイム操作制御、機能オプションの画面プレビュー、自動録画・再生ユーティリティなど、コンピュータ関連のさまざまな機能も提供しています。これらの機能に加えて、JEM 3200FSは複数のユーザーをサポートするネットワークシステムを提供しています。全体として、JEOL JEM 3200FSは、高解像度イメージングと高度な解析機能を1つの機器に組み合わせた汎用性と強力な走査型電子顕微鏡です。優れた解像度と被写界深度を備えた高度な画像処理技術により、JEM 3200FS最も複雑なサンプルの構造と組成を調べるための理想的なツールとなります。