中古 JEOL JEM 3000F #9267278 を販売中

JEOL JEM-3000Fは、優れた解像度と性能を提供する高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。電子顕微鏡カラム、チャンバー、ビーム偏向装置、サンプルステージ、検出器システムを備えています。このコラムは、2.3keVの高周波を示し、最大30kVの電圧を加速し、焦点制御を備えたフィールド放射源を提供します。これにより、電子ビーム演算子の柔軟性が向上し、高解像度の画像を得ることができます。JEM-3000Fのチャンバーに不活性ガスを加圧してサンプル汚染量を軽減し、鮮明な画像環境を提供します。このコラムには、スキャンおよびイメージングサンプルの安定性と精度を向上させるビーム偏向ユニットもあります。サンプルステージは、傾き/回転運動、ラスターモード、エリアスキャン、ポイントスキャンモードなど、さまざまなモードで実行されます。これらはすべて、JEOL JEM-3000Fの汎用性に貢献し、さまざまなイメージング技術を提供します。この検出器には、地形画像を得るためのGold S型の二次電子検出器が装備されており、CEOS検出器は局所的な表面組成物の高コントラスト画像化を可能にします。さらに、JEM-3000Fには5。2 μ m-100 μ mの開口部、プリサンプルおよびポストサンプル検出器を備えたインカラムEDXユニットがあります。これにより、顕微鏡で観察したサンプルの結晶構造や原子構造の同定に有用な元素同定が可能となります。JEOL JEM-3000Fの高い仕様性と多くの機能により、例外的なSEMです。高い柔軟性、サンプルステージ、検出ツールにより、さまざまなイメージングアプリケーションに最適です。イメージングと分析のためのJEM-3000Fの汎用性は、それが同様に科学者や研究者のための有用なツールになります。