中古 JEOL JEM 2500SE #9373226 を販売中

JEOL JEM 2500SEは、高解像度イメージングおよび分析用途向けに設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。フィールドエミッションガン（FEG）電子源を搭載しており、検査や分析のための明るい電子源を提供します。FEG電子源は、ソースの寿命を延ばし、信頼性の高い品質の画像を提供する双極エミッタの配列で構成されています。この顕微鏡には、二次電子（SE）検出器、後方散乱電子（BSE）検出器、エネルギー分散分光（EDS）検出器など、さまざまな検出器が装備されています。すべての検出器は、優れた画質と高感度を提供します。JEM 2500SEは、多種多様なサンプルのイメージングを可能にする高度なイメージング機能を備えています。調整可能なSE検出システムにより、ユーザーは最適なイメージングモードを選択できますが、フィールドの深さが大きいため、同じ標本内のさまざまな領域の画像をキャプチャできます。FEG電子ソースとWolter光学系は、スキャンとフォーカス調整中に画質を一貫して維持します。傾斜可能なサンプルホルダーは、高残留チルトと正確な画像変調が可能で、3次元の微細構造の観察が可能です。JEOL JEM 2500SEのクローズドワークチャンバーは、真空条件を犠牲にすることなく、幅広いサンプルを使用することができます。チャンバーはサンプルと検出器への汚染を最小限に抑えるように設計されており、試験片への損傷を防ぎます。デジタルコントローラは、加速電圧を正確に調整し、最大倍率でも画像の最大解像度を確保します。さらに、自動化されたナビゲーションシステムには、試験片の簡単なナビゲーションのための高性能カメラが含まれています。JEOL JEM 2500Sは、粒子解析、元素解析、位相解析、元素マッピングなど、幅広い分析技術が可能です。EDS検出器は試料の元素組成を正確に決定し、位相検出器は試料の位相分布を特定することができます。また、JEM 2500SEでは、背面散乱検出器を使用したサンプルの調査や、調査結果に基づいたレポート作成が可能です。JEOL JEM 2500SEには、すべてのイメージングおよび分析パラメータへのアクセスをユーザーに提供する使いやすいソフトウェアも装備されています。さらに、直感的なユーザーフレンドリーなインターフェイスと強力なプログラムにより、ユーザーは特定のニーズに合わせて顕微鏡の設定をカスタマイズできます。JEM 2500SEにより、すべてのデータ取得と分析を迅速かつ効率的に実行できます。