中古 JEOL JEM 2500SE #9257409 を販売中

JEOL JEM 2500SEは、幅広い研究および産業用途向けに設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。このモデルは、高解像度、高輝度のイメージングと、フィールド・エミッションおよびフィールド・エミッション・モードの両方の試験片の分析が可能な最先端のイメージング機器です。優れた光学性能、広い被写界深度、イメージングシステムの正確なアライメントなど、ユーザーエクスペリエンスを高めるために設計された多数の機能を備えています。この機能と技術の組み合わせは、比類のないイメージングと分析機能を提供します。JEM 2500SEの光学ユニットは、高性能なイメージングと解析機能を提供する単眼カラムの周りに構築されています。これは、最高解像度のイメージングのためのタングステン陽極X線源と18ビームスキャン機を備えています。これは、電界放射電子銃と高静電安定性を兼ね備えており、最高レベルの画像輝度を実現しています。これはさらに、広い被写界深度ツールによって補完され、試料を動かすことなく、試料内の異なる高さの物体を画像化することができます。最後に、イメージングモデルの正確なアライメントを保証する自動サンプルアライメントがあります。JEOL JEM 2500SEは、二次電子モードでは1。0 nm、逆散乱電子モードでは0。7 nmの解像度で画像を生成することができます。これにより、微細構造や個々の分子の観察や分析に最適です。さらに、このイメージング装置は、低電圧動作により、試料中の微量元素の存在を高感度で検出することができます。JEM 2500SEのイメージングシステムには、標本の画像処理や解析に便利なソフトウェアが搭載されています。これらの機能は、ユーザーのタスクを大幅に簡素化する幅広い自動化機能を提供します。さらに、ライブイメージプレゼンテーション、および他のイメージングおよび分析システムとの統合が可能です。サンプル調製に関しては、JEOL JEM 2500SEでサンプルの取り扱いにいくつかのオプションを用意しています。SEMグリッド、ステージトップSEMサンプルホルダーに対応しています。さらに、温度、ガス、湿度制御を統合したオプションの環境SEMサンプルチャンバーを備えています。最後に、試料寿命を最大化するために、イメージング前のサンプルホルダー位置を維持する安定化機能も備えています。全体として、JEM 2500SEは、幅広い研究および産業用途向けに設計された強力な走査型電子顕微鏡です。その特徴と技術は、高解像度イメージング、微量元素の分析、およびサブナノメートル分解能イメージングに最適です。ユーザーフレンドリーな機能と自動化された機能により、ユーザーのタスクは簡素化され、サンプルの準備/処理オプションは最大の試料寿命を提供します。