中古 JEOL JEM 2200FS #293587150 を販売中

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走査型電子顕微鏡
製造業者
JEOL
モデル
JEM 2200FS
ID: 293587150
Transmission Electron Microscope (TEM) Performance parameters: FEG with ZrO/W(100) Schottky emitter Point resolution: 0.23 nm Line resolution: 0.10 nm 3-stage Intermediate lens system: 4-stage Projective: 2-stage Rotation-free imaging Innovative goniometer with 5-axis position control Piezo drive directions: X, Y Sample holder system with double O-Ring seal and ultra-clean high vacuum pump Cold trap Automatic heating system Sub-control systems: High voltage, goniometer, control panel Vibration damping type: Air mount Screenless operation via HDTV Camera system 1344 x 1024 pixels EM-FS: In-column filter system (4) Sector magnets Motor controlled 4-fold input panel Energy filtering: TEM, STEM Isochromaticity: <1 eV via 2k CCD Chip Geometric distortion: <1 % Detector resolution: used camera system Spectra CCD Camera, Film-negative Spectroscopy: Filter energy resolution: <0.15 eV EELS spectra speed: up to 50ms / Spektrum Dispersion detector level: 50-400u/eV (at 200 kV) GATAN UltraScan 1000 approx. 0.28-0.035 eV/pixel Readout speed: up to 10 spectra/sec Motor-controlled energy selection slot 702-70P-FEF: GATAN In-column filter Ratio map 704-00P: EELS analysis (704,00P) EM-20590: Electrode short voltages 200 kV EM-07320: Motorized lens hood for HR, HT, CR or HC pole shoe EM-20360: Motorized Hard X-Ray Aperture EDX analysis for UHR Polschuh JEM-2200FS: STEM Digital raster transmission unit EM-20670: Primary jet catcher EM-24580: Dark field imaging detector system, STEM EM-24630UH: Dark field imaging detector system STEM, EELS EM-21301: Piezoelement controlled 994.20P.2: GATAN UltraScan1000XP CCD Camera 2048 x 2048 pixels 100/200keV Specification: Sensor: 2048 x 2048 Pixels (à 14um) Full Frame CCD Scintillator: HCRTM Phosphor scintillator (P+) Coupling: HCRTM Fiber optics Binning: 1x, 2x, 4x, 8x Readout speed: 4.0Mpix/sec (4x1MHz) Frame Rate: 5fps at 4x binning, 512 x 512 pixels Digitization: 16Bit Readout noise: <20CCDe- at 1MHz MTF: 25% at 1/2 Nyquist (100kV), 17% at 12 Nyquist (200kV) Cooling temperature: < -24°C Camera head UltraScan camera housings TEM Adapter Post-Specimen shutter control lEEE1394b Computer interface IBM-Compatible computer system Fully motorized bezels TFT Monitor Operating system: Windows Power supply: 80, 100, 120, 160, 200 kV PC.
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JEOL JEM 2200FSは、画期的な走査型電子顕微鏡（SEM）で、高解像度の画像や標本の詳細な解析が可能です。JEM 2200FSの高効率電子光学は、1。2nmの究極の解像度で高品質の画像を提供します。高解像度の二次および後方散乱イメージング機能により、試験片の原子レベル特性を正確かつ詳細に評価できます。JEOL JEM 2200FSは、高輝度、低ノイズレベルを保証するフィールド放射源を使用しています。さらに、プローブ電流は1pAと10nAの間で調整可能で、幅広いイメージング用途に対応できます。SEMのビーム偏向システムは、あらゆる試験片の傾きやドリフトを補正するために、均一なフィールドサイズと広範囲の偏向角度を持つ電磁界を利用しています。ビームスキャンモードと操作制御は、電子ビームパラメータの制御にかなりの柔軟性を提供し、驚異的な解像度と高倍率イメージングを可能にします。JEM 2200FSの試料室は、従来の試料から3D物体、さらには生物学的試料まで、さまざまな試料に対応できます。また、このSEMには、サンプル調製用の自動コーティングシステムが多数搭載されています。この自動化されたプロセスにより、高い均一性と再現性が可能になり、サンプルが適切に分析準備されるようになります。また、JEOL JEM 2200FSは、二次電子検出器、後方散乱電子検出器、信号電子検出器、エネルギー分散X線検出器など、さまざまな信号検出器をサポートしています。これらの検出器は、試料組成の細かい詳細をキャプチャするように設計されており、詳細な分析が可能です。全体として、JEM 2200FSは利用可能な最高のSEMの1つです。その優れた電子光学、高度な検出機能、自動コーティングシステム、および幅広い性能機能により、さまざまなイメージングおよび分析タスクに最適です。
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