中古 JEOL JEM 2200FS #293587150 を販売中

JEOL JEM 2200FSは、画期的な走査型電子顕微鏡（SEM）で、高解像度の画像や標本の詳細な解析が可能です。JEM 2200FSの高効率電子光学は、1。2nmの究極の解像度で高品質の画像を提供します。高解像度の二次および後方散乱イメージング機能により、試験片の原子レベル特性を正確かつ詳細に評価できます。JEOL JEM 2200FSは、高輝度、低ノイズレベルを保証するフィールド放射源を使用しています。さらに、プローブ電流は1pAと10nAの間で調整可能で、幅広いイメージング用途に対応できます。SEMのビーム偏向システムは、あらゆる試験片の傾きやドリフトを補正するために、均一なフィールドサイズと広範囲の偏向角度を持つ電磁界を利用しています。ビームスキャンモードと操作制御は、電子ビームパラメータの制御にかなりの柔軟性を提供し、驚異的な解像度と高倍率イメージングを可能にします。JEM 2200FSの試料室は、従来の試料から3D物体、さらには生物学的試料まで、さまざまな試料に対応できます。また、このSEMには、サンプル調製用の自動コーティングシステムが多数搭載されています。この自動化されたプロセスにより、高い均一性と再現性が可能になり、サンプルが適切に分析準備されるようになります。また、JEOL JEM 2200FSは、二次電子検出器、後方散乱電子検出器、信号電子検出器、エネルギー分散X線検出器など、さまざまな信号検出器をサポートしています。これらの検出器は、試料組成の細かい詳細をキャプチャするように設計されており、詳細な分析が可能です。全体として、JEM 2200FSは利用可能な最高のSEMの1つです。その優れた電子光学、高度な検出機能、自動コーティングシステム、および幅広い性能機能により、さまざまなイメージングおよび分析タスクに最適です。