中古 JEOL JEM 2100F #9300950 を販売中

JEOL JEM 2100Fは、高解像度と高包装度を組み合わせた電界放射走査型電子顕微鏡（FESEM）です。これは、信頼性と再現性の高い画質のために最適化された条件の優れた組み合わせを持っています。この顕微鏡は、低解像度と高解像度の両方の試験で最適な性能を発揮するように設計されています。JEM 2100Fには10 keV FEG電子源があり、インコラム・エネルギーフィルタ、上下チャネルトロン検出器、および印象的な35mm幅の試料チャンバーがあります。FEGソースは非常に低いエミッタンスを維持しているため、低解像度または高解像度でイメージングするときに非常に均一な画像を生成します。また、ビーム電流が低く、パフォーマンスと安定性を維持します。デュアルEDS検出器は、素早く正確な組成解析を実現します。この顕微鏡には、電子カラムを正弦波コイルに自動的に配置する3次元オートアライメントシステムが装備されています。これにより、低解像度または高解像度のイメージングを行うときに適切なアライメントを維持することも容易になります。大きな開口部は、均一なカバレッジで広い領域を撮影するのに理想的です。高い倍率と小さな作動距離の組み合わせにより、画質と解像度が向上します。JEOL JEM 2100Fは、さまざまな用途に使用できる汎用性の高い機器です。これは、細胞や細菌、粒子や繊維、薄膜や層状構造、金属、セラミックス、複合材料などのさまざまな種類の標本を撮影するために設計されています。高解像度イメージング、要素解析、構造解析に最適です。JEM 2100Fは、優れた画像および解析精度、高速スキャン時間、および優れた再現性を提供します。デュアル検出器システムは、単一の検出器システムよりも高速なデータ収集と改善された解像度を可能にします。これと並行して、ファインフォーカスと小さなビームステップの高さの特徴により、正確で詳細な画像を得ることができます。全体として、JEOL JEM 2100Fは、様々な標本や材料のイメージングと分析において非常に貴重な顕微鏡です。優れた解像度、高速イメージング、最大限の安定性を提供し、ユーザーは必要な包括的な結果を迅速かつ正確に得ることができます。