中古 JEOL JEM 2100F #9269139 を販売中

JEOL JEM 2100Fは、分析・イメージング用途向けの走査型電子顕微鏡（SEM）です。マテリアルサイエンス、ライフサイエンス、エレクトロニクス、冶金など、さまざまな分野のルーチンイメージングを可能にする装置です。この顕微鏡には既存のFEI Everhart-Thornley Schottky Field Emission Gunが搭載されており、高分解能イメージングおよび分析用途向けの高エネルギーおよび電圧範囲で動作します。JEM 2100Fは、デジタルカメラと高解像度イメージングシステムを搭載し、低倍率で鮮明で詳細な画像解像度を提供します。FEI Everhart-Thornley Schottky Field Emission gunは電子電流密度を高め、画像処理能力を向上させた。また、in-Lens CsISイメージングユニットとin-Lens Electron Acceleration Voltage Modulationにより、画質の向上と電子銃の制御が可能になります。FEI Everhart-Thornley Schottky Field Emission gunは、1〜30kVの範囲のエネルギーで動作するため、特定のイメージングまたは分析要件に適した低エネルギーから高エネルギーでの動作が可能です。CsIS in-Lens Imaging Machineにより高解像度のデジタルイメージングが可能になり、表面特性の詳細なキャプチャと細かい地形構造の高解像度イメージングが可能です。JEOL JEM 2100Fは、さまざまな分析機能も提供しています。エネルギー分散型X線分光法（EDX）を用いた元素解析が可能で、素材の迅速なスポット解析が可能です。さらに、電子後方散乱回折（EBSD）は、合金の同定と結晶方向マッピングの生成に利用できます。イメージングツールのデータは、サンプル構造の正確な3D再構築にも使用でき、ボリューム構造の可視化が可能です。最後に、JEM 2100Fには5軸モーションコントロールを備えた大きなステージが装備されており、サンプルの正確なナビゲーションを提供します。顕微鏡は、さまざまなサンプルスタブ、マウント、ホルダーと組み合わせることで、さまざまなサンプルに柔軟に対応できます。サンプルがステージに上がると、DEIpre Focus-detectionアセットを使用して、イメージングと分析の対象領域を正確に特定できます。