中古 JEOL JEM 2100F #9255945 を販売中

JEOL JEM 2100Fは、試料の高品質、高解像度イメージングおよび分析を提供するために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。この高度なSEMにより、解像度とコントラストが向上し、イメージング時間が短縮され、サンプル準備能力が向上します。その高度な電子光学は、要求の厳しい研究者のニーズに合わせた幅広いイメージングおよび補正モードを提供します。JEM 2100Fの電子源は、タングステンフィラメントを備えたショットキーガンを使用し、高エネルギー電子を迅速かつ効率的に生成することができます。加速電圧範囲は5〜20kVで、正確な分解能は+/-0。1V、電子電流は最大0.9μAです。標本は、イメージングの目的に応じて、異なる解像度で動作することができる30kV-20μAビームによって電子的にスキャンされます。SEMには、標準の高解像度（SHR）イメージングモードよりも高速スキャン領域検出オプションが装備されています。このシステムのイメージングスイートには、高角度と低角度の両方のイメージングが含まれており、研究者はサンプルの全画像イメージングを得るためのさまざまな可能性を提供します。さらに、フルオートナビゲーション（FAN）モードを使用すると、ビーム位置と画像の強化を手動で調整することなく、サンプルの関心領域にすばやく正確にアクセスできます。FANモードは、従来のSEM技術よりも興味深い領域を探索したいユーザーに最適です。JEOL JEM 2100Fには、遠隔操作によるサンプルチェンジユニット、切り離し制御コンソール、結晶構造解析用の自動回折イメージングシステムなど、高度な専用アクセサリーも揃えています。オプションのadvanced-beam-alignmentモジュールとauto-samplerモジュールにより、ユーザーはコンピュータ制御の容易さでサンプル上のビームを正確に整列および操作できます。JEM 2100Fは、生体材料の断面図や高解像度イメージング、ナノ材料の詳細解析などの用途に最適です。JEOL JEM 2100Fは、高解像度のイメージングと解析を可能にすることで、サンプル研究において完全な制御と最大限の精度が要求される研究者向けの包括的な走査型電子顕微鏡ソリューションを提供します。