中古 JEOL JEM 2100F #9249571 を販売中

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製造業者
JEOL
モデル
JEM 2100F
ID: 9249571
Transmission Electron Microscope (TEM) Operated at 200 kV vacuum system for analysis Part number / Description EM 21001FBU / Electron microscope basic unit EM-20145 (ZFE20) / Field emission gun EM-20520 / Illumination astigmatism correct ex unit EM-20500 / CM Lens unit EM-20023 / High resolution pole piece EM 20080(HCOA) / High contrast objective aperture EM-37134PCU / Operation unit EM-23076SVU2F / SIP Vacuum pump unit EM205310LACU / Imaging astigmatism correction unit EM-23080 / DP Rough pump unit EM 37115MON / Main monitor EM-25400 / Digital hour meter EM 28022IP2 / Lift pole Essential accessories: SF6 / SF6 Gas charge tool (Local supply) EM-48141D / Water chiller, one unit type, water-to-air heat exchanger EM-28220 / UPS Power supporter (UPS-410) EM-30040(BS) / Beam stopper EX-37200SMU / Swing mouse unit DTM-961002 / Step down transformer for CWC A11J103SD002- / Voltage regulator for 2100F BU (PN: 781168643) SP-2100F / Spare parts kit CFPJ02B6-S17 / ANEST IWATA Air compressor Battery / Car battery for EM-28220 UPS STEM / Digital STEM package EM-24541SIOD / Scanning image observation device EM-27102IAU / Image acquisition unit EM-24560 / Dark field image observation device EM-20380 / Hard X-ray aperture EM-20590 / Electrode short switch EDS / OXFORD AZTEC X-Max 80T system IB-62020AXPE / Atmosphere pick-up system GATAN / Holder and DigiScan function - / Model 788 DigiScan II - / GATAN Double tilt holder 925 Manuals.
JEOL JEM 2100Fは、パワフルで最先端のイメージングと分析技術と直感的で使いやすい操作を組み合わせた、高性能で高解像度の走査型電子顕微鏡(SEM)です。このシステムは、ルーチンイメージングから3Dおよび分光法の可能性まで、幅広いアプリケーションを備えており、比類のないイメージングおよび分析機能を提供します。このシステムはCCDイメージングシステム上に構築されており、3つのテクニックすべてで真の高解像度イメージングを提供します。従来の二次電子、逆散乱電子、インレンズ検出。高性能で高解像度のCCDセンサーを搭載したJEM 2100Fは、1nm以上の解像度でディテール豊富な画像とデータを生成することができます。エネルギー分散型X線検出器やトータルエネルギー検出器などの高度な検出器は、高品質の分析データを提供し、元素分析と化学プロファイリングで正確な結果をもたらします。JEOL JEM 2100Fには多軸サンプルステージも装備されており、様々な角度や視点のサンプルを簡単に操作して動かすことができます。さらに、内蔵のデジタルカメラは、便利なサンプル表示と検査を提供します。デュアルハイコントラストマイクロマニピュレータやデュアルサイドヒーターおよび冷却プレートなどの高度な機能は、ユーザーにさらなる柔軟性と制御を提供します。全体として、JEM 2100Fは、高性能で詳細なイメージングおよび分析機能を備えているため、幅広い電子顕微鏡アプリケーションに最適です。その使いやすさと直感的な操作は、研究室や研究環境に特に適しており、非常に貴重な資産となっています。
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