中古 JEOL JEM 2100F #9248479 を販売中

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JEOL JEM 2100F
販売された
製造業者
JEOL
モデル
JEM 2100F
ID: 9248479
Field Emission Transmission Electron Microscope (FETEM) P/N / Description EM-21001FBU / Electron microscope basic unit EM-20145 / Field emission gun EM-20520 / Illumination astigmatism corrector unit EM-20500 / CM Lens unit EM-20023 / High resolution pole EM-20G80 / High contrast objective aperture EM-37134PCU / Operation unit EM-23076SVU2F / SIP Vacuum pump unit EM-20531OLACU / Imaging astigmatism correction unit EM-23080 / DP Rough pump unit EM-37115MON / Monitor EM-25400 / Digital hour meter EM-28022LP2 / Lift pole SF6 / Gas charge tool EM-48141D / Water chiller A11J103SD002-08 II / Voltage regulator for 2100F BU SP-2100F / Spare parts CFPJ02B6-S17 / ANEST IWATA Air compressor - / Digital STEM package EM-24541SIOD / Scanning image observation device EM-27102IAU / Image acquisition unit EM-24560 / Dark field image observation device EM-20380 / Hard X-ray aperture EM-20590 / Electrode short switch EDS / OXFORD AZTEC X-Max 80T System IB-62020AXPE / Atmosphere pick-up system - / GATAN Holder and digiscan function - / GATAN 925 Double tilt holder - / GATAN 925 - / GATAN 788 DigiScan.
JEOL JEM 2100F走査型電子顕微鏡(SEM)は、高解像度のデジタルイメージング装置で、様々な材料の非常に詳細な画像を生成することができます。焦点電子ビームを使用して、100万倍まで拡大することができ、非常に小さな特徴の分解能を可能にします。また、JEM 2100Fは、元素、結晶、形態解析など、他の電子顕微鏡よりも幅広い分析能力を提供しています。JEOL JEM 2100Fは、さまざまな用途に対応する強力なイメージングプラットフォームを提供する独自の機能を備えています。3Dレンダリング画像を生成できる高解像度デジタルイメージング機器を内蔵し、コントラストを高める後処理機能を提供します。また、異なる条件下で標本をイメージングするための可変圧力チャンバーと、自動サンプル準備段階を備えています。JEM 2100Fは、コールドフィールド放射や静電レンズなど、幅広い電子カラム技術を活用しています。これにより、システムを最適化して、50万分の1メートルから100万分の1メートルまで、異なる倍率で高品質の画像を生成できます。JEOL JEM 2100Fは、広い視野を提供し、効率的なサンプルの読み込みと高速イメージングを可能にします。JEM 2100Fには、最大720 Kev加速電圧の元素解析を可能にする統合EDS X線分光計も搭載しています。このebon機能とユニットの高度なイメージング機能により、高度な材料特性評価アプリケーションに使用することができます。最後に、JEOL JEM 2100Fは完全自動化されたSEMであり、無人で長時間の走行が可能です。これにより、1人のオペレータが機械の性能を気にすることなくさまざまな実験を管理できるラボに最適です。
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