中古 JEOL JEM 2100F #9236895 を販売中

JEOL JEM 2100Fは、加速電圧範囲1-30kVの走査型電子顕微鏡（SEM）です。その理論的解像度と3次元イメージング機能は、染色や加工を必要とせずに最小の標本でも直接観察することができます。JEM 2100Fは、調整可能な作業距離を通じて、大型でかさばる物体や標準サイズの標本に対応しています。SEMにはフィールドエミッションガン（FEG）が搭載されており、安定した電圧を得ることが保証された電子源を持つ微細な電子ビームを生成します。この安定性により、4nmの優れたポイント・ツー・ポイント解像度で高解像度のイメージングが保証されます。二次電子イメージングモードでは、試料の3次元イメージングが可能ですが、後方散乱電子モードでは試料組成に関する情報が得られます。SEMには、サンプルの特定の詳細をより大規模に観察するための側検出器も含まれています。パターン認識機能と組み合わされたインテリジェントなデザインは、ユーザーのニーズに基づいて自動的に焦点を合わせることと明るさとコントラストレベルの変更を可能にします。試料マッピング機能により、ステージを移動することなく、試料のさまざまな部分から画像を取得することができます。このSEMの広い被写界深度は、厚い標本のイメージングを強化します。JEOL JEM 2100Fは、便利なタッチスクリーンコントロールパネルを搭載した直感的な楽器です。このコントロールパネルを使用すると、加速電圧、電流、粒子、ズーム、フォーカス、輝度レベルなど、さまざまな設定を調整できます。また、解像度、倍率、視野の変更も可能です。これらの機能に加えて、JEM 2100Fには、Windows 10 ProfessionalとJEOLソフトウェアを含むオンボードPCが搭載されています。このソフトウェアは、画像の操作、ラベルの注釈、およびPCから直接インストゥルメントの制御を可能にします。全体として、JEOL JEM 2100Fは高度な走査型電子顕微鏡であり、高精度で明瞭な様々な標本の微細な特徴を詳細に観察できるように設計されています。多機能コントロールパネルとオンボードPCを組み合わせることで、大型でかさばるオブジェクトを扱うことができるため、さまざまな科学的および研究目的に最適です。