中古 JEOL JEM 2100A #9355536 を販売中
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ID: 9355536
Transmission Electron Microscope (TEM)
Lattice image resolution: 0.1 nm
STEM Image resolution: 0.2 nm
FEG Schottky gun (ZrO2 / W)
GATAN UltraScan 894 CCD
GATAN 788 DigiScan II Control box
Chiller with refrigerated circulation system
GATAN Tridiem 863 EELS Detector
MARUYAMA Rotary pump
GOINO Tilt angle: ±30°
GATAN 925 Single tilt holder
Operating system: Windows XP, 32 bit
JEOL UPS
CL Aperture:
200 µm
100 µm
40 µm
10 µm
OBJ Aperture:
120 µm
60 µm
20 µm
10 µm
SA Aperture:
120 µm
50 µm
20 µm
10 µm
JED-2300 EDS Detector Si (Li) (Currently non-functional).
JEOL JEM 2100Aは、さまざまなイメージング、分析、サンプル調製アプリケーション向けに設計された、業界をリードする環境スキャン電子顕微鏡(ESEM)です。0.2kVから30kVまでの調整可能な加速電圧、自動チャンバ真空コントローラ、自動ガス入口装置を備えた顕微鏡は、幅広いイメージングおよび分析機能を提供します。JEOL JEM 2100 Aは、環境に配慮した高精度の試料ホルダーを採用しており、試料チャンバー内に制御された大気圧を印加することができます。これは、生きている細胞や生物のような湿った、壊れやすい、凝縮しやすい標本を撮影するために不可欠です。球状および色収差のないポストカラム電子光学ユニットは、レンズを追加することなく最大5。4nmの高解像度で高品質の画像を生成します。特許取得済みのEverHigh感度電子検出器とEverHigh Contrast Contrast Contrast Detail Enhancementテクノロジーにより、最も弱い信号を検出し、ビームに敏感な標本で最高の詳細を視覚化できます。OA-EBO5 BSE/SEイメージプロセッサには、ノイズ低減、コントラスト強化、エッジ検出、定量化など、いくつかの画像処理および解析操作が含まれています。JEM 2100Aは、エネルギー分散型X線分析機能(EDX)にも使用できます。EDXは、その完全性を維持しながら標本の元素分析を可能にします。この顕微鏡は透過電子顕微鏡(TEM)にも使用でき、より厚い材料の細部を観察し、比較的大きな構造を高解像度で観察することができます。JEM 2100 Aは、自動ステージ、プログラマブルサンプルホルダー、高性能デジタルイメージングマシン、強力なコントローラなど、幅広いハードウェア機能を備えています。この汎用性と信頼性の高い顕微鏡は、サンプル調製段階、低真空コーティングシステム、凍結圏など、幅広い装置と互換性があります。JEOL JEM 2100Aは、材料科学、ナノテクノロジー、生物学、医学研究における幅広い用途において、比類のない性能と精度を提供するように設計されています。JEOL JEM 2100 Aは、非常に高解像度で高度な分析機能を備え、比類のないレベルの研究生産性を実現します。
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