中古 JEOL JEM 2011 #293668339 を販売中

JEOL JEM 2011は、複雑な地形特性の高解像度画像を生成できる走査型電子顕微鏡（SEM）です。この顕微鏡は、コールドフィールド放射ビーム（電子銃）を利用して電子ビームを生成し、コンデンサーレンズによってサンプルに集中させます。これにより、サンプル表面にラスターパターンが作成され、イメージングレンズによってスキャンされ、サンプル表面の拡大画像が形成されます。この画像は検出器によって読み取られ、それによって標本のデジタル画像が作成されます。JEM 2011は、材料科学、法医学、半導体研究など、さまざまな応用がある信頼性と汎用性の高いSEMです。真空密閉チャンバーであり、サンプルを確保するためのサンプルホルダーと、画像が生成される観察チャンバーを備えています。数マイクロメートルから数百ナノメートルの大きさのサンプルを分析することができます。この顕微鏡は、エネルギー分散X線分光法（EDX）と電子背面散乱回折法（EBSD）を使用して元素および化学分析データを収集することもできます。JEOL JEM 2011は、ユーザーの利便性と正確性を最大化するための高度な機能を多数搭載しています。これらには、サンプルの種類を認識し、顕微鏡のパラメータを最適な設定に自動的に調整するオートスタート機能が含まれます。また、サンプルを簡単かつ迅速にスキャンできる自動ステージ制御システムが内蔵されています。強度コントラスト、原子力顕微鏡（AFM）、デジタルイメージ処理など、さまざまな画像および測定機能を使用して、サンプルを正確に分析および研究できます。JEM 2011は、材料の分析と可視化における強力なツールです。高いコントラストと解像度でシャープで詳細な画像を提供することができます。サンプルの物理的および化学的性質を、地形や構造とともに測定するために使用することができます。この顕微鏡は、高速スキャンと自動化されたプロセスによる高速サンプル分析も可能です。これらの特徴から、JEOL JEM 2011は多種多様なラボワークに理想的な装置となっています。