中古 JEOL JEM 2010UHR #9240146 を販売中

JEOL JEM 2010UHR走査型電子顕微鏡（SEM）は、様々なサンプル分析用に設計された強力な高解像度イメージング装置です。JEM 2010UHRは、最大200kVの加速電圧と高コントラスト、高スループットイメージング性能を備えたUHR SEM装置です。この顕微鏡は、直径250mmまでの試料サイズに対応できる大型試料室を備えています。また、独自のインレンズ検出器を内蔵しており、低kV、高圧動作で優れた画質を提供します。これにより、導電性と絶縁性の低い完全なナノスケール構造を観察することができます。SEMはまた、環境と分析の操作、位相コントラスト、断面、傾斜シリーズの取得、および詳細な3次元再構築のためのトモグラフィーなどの技術のユニークな組み合わせを提供しています。これらの技術は、金属、絶縁体、ポリマー、生物学的サンプルなど、さまざまな材料を調べるために使用できます。この装置は、インカラムエネルギーフィルターイメージング（IEF）、電子後方散乱回折（EBSD）、飛行時間二次イオン質量分析（TOF-SIMS）、波長分散X線分光器（WOPS）、低電子分光器（WOPS）などの高度なイメージング機能を可能にします。JEOL JEM 2010UHRは、多種多様なサンプルホルダーと試料ホルダーの交換を可能にする大型チャンバーフランジを備えています。地形スキャン、ラインスキャン、パーティクルカウントなどの自動操作を可能にする自動ステージを備えています。また、μFly™自動傾斜機能を搭載し、真空を破壊することなく傾斜角度を自動的に変更することができます。また、RSP （Removable Sample Preparation Stage）も装備されており、さまざまなサンプル準備コンポーネントやアクセサリにアクセスできます。これにより、金、カーボン、プラチナなどのサンプルコーティングが可能になり、電子透過画像の品質が向上します。さらに、クライオクーラー、大気冷却・加熱を行うチャンバー、高圧ステージ、腐食チャンバー、電磁浮上装置など、広範囲のin situイメージングアクセサリも提供して2010UHRます。全体として、JEOL JEM 2010UHRは、シンプルなイメージングから複雑な分析まで、幅広いアプリケーションに使用できる強力な機能を備えたイメージングモンスターです。これは、さまざまな材料における包括的なサンプル分析のためのイメージングおよび分析技術の包括的なスイートを提供しています。