中古 JEOL JEM 2010F #9253109 を販売中

JEOL JEM 2010Fは、優れたイメージング機能を備えた高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。このシステムは、最大0。2nmの非常に微細な解像度で、高品質で大画質画像を提供します。これは、コールドフィールド放射源と特殊な低振動技術によって実現され、コントラストと高解像度の画像が得られます。この2010Fは、ホルダーからイメージングチャンバーへの迅速なサンプル転送を可能にする自動ローディングシステムにより、高速なサンプル調製が可能です。水蒸気の真空測定やスパッタコーティングなど、様々な試料調製方法DEBIE™ご用意しています。この2010Fには、高性能イメージングのためのさまざまな分析機能が組み込まれています。エネルギー分散型X線分光法（EDS）を使用して、サンプルの元素分析を可能にします。EDXマッピングを使用して、サンプルサーフェス上のコンポジション分布をマッピングできます。2010Fにはカスタマイズ可能なグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）が付属しており、顕微鏡の設定や最適なイメージングパラメータの選択に素早くアクセスできます。2010Fは、単軸傾斜用に200mmの大きなチャンバーサイズを備えており、広域マッピングを高速かつ効率的に行うことができます。検出器ステージもあり、360°回転して複数の角度から検体を監視します。2010Fは、医学、材料科学、ナノテクノロジー、エレクトロニクスなど、さまざまな産業で使用できます。生体試料から有機物、無機物まで、様々な試料に適しています。2010Fは最小限のメンテナンスのみを必要とするように設計されています。低い電力の消費および高い信頼性；2010Fは広い応用範囲のための理想的な選択であることを意味します。